TOP > 外国特許検索 > OPTICAL INTERFERENCE TOMOGRAPH

OPTICAL INTERFERENCE TOMOGRAPH

外国特許コード F060001507
整理番号 F060001507
掲載日 2007年2月16日
出願国 世界知的所有権機関(WIPO)
国際出願番号 2005JP006789
国際公開番号 WO 2006/022045
国際出願日 平成17年4月6日(2005.4.6)
国際公開日 平成18年3月2日(2006.3.2)
優先権データ
  • 特願2004-247272 (2004.8.26) JP
発明の名称 (英語) OPTICAL INTERFERENCE TOMOGRAPH
発明の概要(英語) An optical interference tomograph in which a thick (or thin) part of an examineecan be grasped intuitively when a position-layer thicknessgraph is displayed from two-dimensional or three-dimensional tomographicinformation on the examinee. In the optical interference tomograph, layer thicknessat each position on a scanning line is calculated for at least one of layers constitutingthe examinee according to two-dimensional tomographic information on the examineewhich is obtained, for example by scanning the surface thereof with irradiationlight. Subsequently, an axial line indicating a position on the scanning lineis displayed in a shape similar to that of the scanning line and the calculatedlayer thickness is plotted with a predetermined scale from the axial line in thedirection normal to the axial line.
  • 出願人(英語)
  • ※2012年7月以前掲載分については米国以外のすべての指定国
  • National University Corporation Nagoya University
  • 発明者(英語)
  • Ito, Yasuki
国際特許分類(IPC)
指定国 AE AG AL AM AT AU AZ BA BB BE BF BG BJ BR BW BY BZ CA CF CG CH CI CM CN CO CR CU CY CZ DE DK DM DZ EC EE EG ES FI FR GA GB GD GE GH GM GN GQ GR GW HR HU ID IE IL IN IS IT JP KE KG KM KP KR KZ LC LK LR LS LT LU LV MA MC MD MG MK ML MN MR MW MX MZ NA NE NI NL NO NZ OM PG PH PL PT RO RU SC SD SE SG SI SK SL SM SN SY SZ TD TG TJ TM TN TR TT TZ UA UG US UZ VC VN YU ZA ZM ZW
名古屋大学の公開特許情報を掲載しています。ご関心のある案件がございましたら、下記まで電子メールでご連絡ください。

PAGE TOP

close
close
close
close
close
close