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APPARATUS FOR MEASURING ELECTRICAL CHARACTERISTICS OF SEMICONDUCTOR

外国特許コード F070001634
整理番号 F070001634
掲載日 2007年8月31日
出願国 世界知的所有権機関(WIPO)
国際出願番号 2005JP015953
国際公開番号 WO 2006/022425
国際出願日 平成17年8月25日(2005.8.25)
国際公開日 平成18年3月2日(2006.3.2)
優先権データ
  • 特願2004-249197 (2004.8.27) JP
発明の名称 (英語) APPARATUS FOR MEASURING ELECTRICAL CHARACTERISTICS OF SEMICONDUCTOR
発明の概要(英語) An apparatus is provided with a light irradiating means for applying light ona semiconductor whose characteristics are to be measured, an alternating currentvoltage source, a potential measuring means and an impedance regulator. To havea zero potential at a potential measuring point of the semiconductor to be measuredin a status where the semiconductor is not irradiated with light by the light irradiatingmeans, the impedance is regulated by the impedance regulator. The electricalcharacteristics of the semiconductor to be measured is measured by potentialmeasurement at the time when the semiconductor is irradiated with light and atthe time when the semiconductor is not irradiated with light. Thus, the electricalcharacteristics of the semiconductor can be accurately measured with a simpleconstitution.
  • 出願人(英語)
  • ※2012年7月以前掲載分については米国以外のすべての指定国
  • National University Corporation Tokyo University Of Agriculture And Technology
  • 発明者(英語)
  • Sameshima, Toshiyuki
  • Watakabe, Hajime
国際特許分類(IPC)
指定国 AE AG AL AM AT AU AZ BA BB BE BF BG BJ BR BW BY BZ CA CF CG CH CI CM CN CO CR CU CY CZ DE DK DM DZ EC EE EG ES FI FR GA GB GD GE GH GM GN GQ GR GW HR HU ID IE IL IN IS IT JP KE KG KM KP KR KZ LC LK LR LS LT LU LV MA MC MD MG MK ML MN MR MW MX MZ NA NE NG NI NL NO NZ OM PG PH PL PT RO RU SC SD SE SG SI SK SL SM SN SY SZ TD TG TJ TM TN TR TT TZ UA UG US UZ VC VN YU ZA ZM ZW
※ 国立大学法人東京農工大学では、先端産学連携研究推進センターにおいて、知的財産の創出・権利化・活用に取り組んでいます。上記の特許・技術の内容および導入に興味・関心がありましたら、当センターまでお気軽にお問い合わせください。

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