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QUANTUM BEAM AIDED ATOMIC FORCE MICROSCOPY AND QUANTUM BEAM AIDED ATOMIC FORCE MICROSCOPE 新技術説明会

外国特許コード F070001657
整理番号 F070001657
掲載日 2007年9月7日
出願国 世界知的所有権機関(WIPO)
国際出願番号 2004JP019092
国際公開番号 WO 2005/103647
国際出願日 平成16年12月21日(2004.12.21)
国際公開日 平成17年11月3日(2005.11.3)
優先権データ
  • 特願2004-126099 (2004.4.21) JP
発明の名称 (英語) QUANTUM BEAM AIDED ATOMIC FORCE MICROSCOPY AND QUANTUM BEAM AIDED ATOMIC FORCE MICROSCOPE 新技術説明会
発明の概要(英語) A quantum beam aided atomic force microscope and quantum beam aided atomic force microscopy that can realize simultaneously performing of atomic-level configuration observation and elemental analysis with the use of an atomic force microscope and further can effect analysis of the chemical state of sample surfaces and that as being operable in liquids, can realize the elemental analysis and chemical state analysis of biosamples with an atomic-level resolving power. Accordingly, atoms of sample surface are irradiated with quantum beams, such as charged particles, electrons and photons, having a given electron transition energy characteristic of element, and any change of interactive force between the atoms of sample surface having been irradiated with quantum beams and the distal end of the probe is detected.
  • 出願人(英語)
  • ※2012年7月以前掲載分については米国以外のすべての指定国
  • Japan Science And Technology Agency
  • 発明者(英語)
  • Suzuki, Shushi
  • Chun, Wang-jae
  • Asakura, Kiyotaka
  • Nomura, Masaharu
国際特許分類(IPC)
指定国 AE AG AL AM AT AU AZ BA BB BE BF BG BJ BR BW BY BZ CA CF CG CH CI CM CN CO CR CU CY CZ DE DK DM DZ EC EE EG ES FI FR GA GB GD GE GH GM GN GQ GR GW HR HU ID IE IL IN IS IT KE KG KP KR KZ LC LK LR LS LT LU LV MA MC MD MG MK ML MN MR MW MX MZ NA NE NI NL NO NZ OM PG PH PL PT RO RU SC SD SE SG SI SK SL SM SN SY SZ TD TG TJ TM TN TR TT TZ UA UG US UZ VC VN YU ZA ZM ZW
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