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SUBSTRATE FOR ANALYSIS FOR USE IN RAMAN SPECTROSCOPIC ANALYSIS AND SUBSTRATE ASSEMBLY FOR ANALYSIS

外国特許コード F080001910
整理番号 QP050074-PC
掲載日 2008年8月22日
出願国 世界知的所有権機関(WIPO)
国際出願番号 2006JP320703
国際公開番号 WO 2007/049487
国際出願日 平成18年10月18日(2006.10.18)
国際公開日 平成19年5月3日(2007.5.3)
優先権データ
  • 特願2005-309337 (2005.10.25) JP
発明の名称 (英語) SUBSTRATE FOR ANALYSIS FOR USE IN RAMAN SPECTROSCOPIC ANALYSIS AND SUBSTRATE ASSEMBLY FOR ANALYSIS
発明の概要(英語) This invention provides a substrate or substrate assembly for Raman spectroscopic analysis that can analyze even a low-concentration substance with high sensitivity. The substrate (1) for use in Raman spectroscopic analysis comprises a predetermined transparent substrate (3) and metal particles (5) unevenly deposited on a surface of the transparent substrate (3).
  • 出願人(英語)
  • ※2012年7月以前掲載分については米国以外のすべての指定国
  • Kyushu University, National University Corporation
  • 発明者(英語)
  • Ona, Toshihiro
  • Murakami, Shuichi
国際特許分類(IPC)
指定国 AE AG AL AM AT AU AZ BA BB BE BF BG BJ BR BW BY BZ CA CF CG CH CI CM CN CO CR CU CY CZ DE DK DM DZ EC EE EG ES FI FR GA GB GD GE GH GM GN GQ GR GT GW HN HR HU ID IE IL IN IS IT JP KE KG KM KN KP KR KZ LA LC LK LR LS LT LU LV LY MA MC MD MG MK ML MN MR MW MX MY MZ NA NE NG NI NL NO NZ OM PG PH PL PT RO RS RU SC SD SE SG SI SK SL SM SN SV SY SZ TD TG TJ TM TN TR TT TZ UA UG US UZ VC VN ZA ZM ZW
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