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SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY METHOD AND IMAGING METHOD

外国特許コード F080001959
整理番号 F080001959
掲載日 2008年10月16日
出願国 世界知的所有権機関(WIPO)
国際出願番号 2007JP061864
国際公開番号 WO 2007/145232
国際出願日 平成19年6月13日(2007.6.13)
国際公開日 平成19年12月21日(2007.12.21)
優先権データ
  • 特願2006-163778 (2006.6.13) JP
発明の名称 (英語) SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY METHOD AND IMAGING METHOD
発明の概要(英語) It is intended to provide a novel method by which an organic molecule such as a protein or an endocrine disruptor can be analyzed at a high sensitivity. A secondary ion mass spectrometry method with the use of a heavy ion beam as a primary ion beam, which can achieve a high sensitivity, is usable in detecting a biologically-relevant substance at, for example, the subattomole level. Thus, it becomes possible to favorably image a biologically-relevant sample.
  • 出願人(英語)
  • ※2012年7月以前掲載分については米国以外のすべての指定国
  • Kyoto University
  • 発明者(英語)
  • Matsuo, Jiro
国際特許分類(IPC)
指定国 AE AG AL AM AT AU AZ BA BB BE BF BG BH BJ BR BW BY BZ CA CF CG CH CI CM CN CO CR CU CY CZ DE DK DM DO DZ EC EE EG ES FI FR GA GB GD GE GH GM GN GQ GR GT GW HN HR HU ID IE IL IN IS IT JP KE KG KM KN KP KR KZ LA LC LK LR LS LT LU LV LY MA MC MD MG MK ML MN MR MT MW MX MY MZ NA NE NG NI NL NO NZ OM PG PH PL PT RO RS RU SC SD SE SG SI SK SL SM SN SV SY SZ TD TG TJ TM TN TR TT TZ UA UG US UZ VC VN ZA ZM ZW
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