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CONVERSION DEVICE, CONVERSION METHOD, PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM 実績あり

外国特許コード F080001987
整理番号 F080001987
掲載日 2008年12月5日
出願国 世界知的所有権機関(WIPO)
国際出願番号 2007JP062929
国際公開番号 WO 2008/001818
国際出願日 平成19年6月27日(2007.6.27)
国際公開日 平成20年1月3日(2008.1.3)
優先権データ
  • 特願2006-180655 (2006.6.30) JP
発明の名称 (英語) CONVERSION DEVICE, CONVERSION METHOD, PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM 実績あり
発明の概要(英語) Provided is a conversion device or the like for converting a given initial test pattern into a test pattern having a bit constitution of different logical values, without lowering a failure detection percentage of transitional delay failures, which can detected by the components of the initial test pattern. The conversion device converts the initial test pattern (100a) given in advance to a logic circuit, into the intermediate test pattern (100b) having a bit constitution of different logical values. The components of the initial test pattern (100a) are at least two consecutively applied test vectors. The conversion device includes decision means for deciding such a combination of the logical values in the initial test pattern (100a) as satisfies the conditions for detecting the failures of the logic circuit, which are detected by applying the components.
  • 出願人(英語)
  • ※2012年7月以前掲載分については米国以外のすべての指定国
  • Japan Science And Technology Agency
  • Kyushu Institute Of Technology
  • System Jd Co., Ltd.
  • 発明者(英語)
  • Kajihara, Seiji
  • Miyase, Kohei
  • Wen, Xiaoqing
  • Minamoto, Yoshihiro
  • Date, Hiroshi
国際特許分類(IPC)
指定国 AE AG AL AM AT AU AZ BA BB BE BF BG BH BJ BR BW BY BZ CA CF CG CH CI CM CN CO CR CU CY CZ DE DK DM DO DZ EC EE EG ES FI FR GA GB GD GE GH GM GN GQ GR GT GW HN HR HU ID IE IL IN IS IT JP KE KG KM KN KP KR KZ LA LC LK LR LS LT LU LV LY MA MC MD ME MG MK ML MN MR MT MW MX MY MZ NA NE NG NI NL NO NZ OM PG PH PL PT RO RS RU SC SD SE SG SI SK SL SM SN SV SY SZ TD TG TJ TM TN TR TT TZ UA UG US UZ VC VN ZA ZM ZW
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