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DELAY TIME MODULATION FEMTOSECOND TIME-RESOLVED SCANNING PROBE MICROSCOPE APPARATUS

外国特許コード F110003254
整理番号 A041-48EP
掲載日 2011年6月22日
出願国 欧州特許庁(EPO)
出願番号 02803925
公報番号 1460410
公報番号 1460410
出願日 平成14年11月25日(2002.11.25)
公報発行日 平成16年9月22日(2004.9.22)
公報発行日 平成20年8月6日(2008.8.6)
国際出願番号 PCT/JP2002/012273
国際公開番号 WO2003/046519
国際出願日 平成14年11月25日(2002.11.25)
国際公開日 平成15年6月5日(2003.6.5)
優先権データ
  • 特願2001-360047 (2001.11.26) JP
発明の名称 (英語) DELAY TIME MODULATION FEMTOSECOND TIME-RESOLVED SCANNING PROBE MICROSCOPE APPARATUS
  • 出願人(英語)
  • Japan Science and Technology Agency
  • 発明者(英語)
  • SHIGEKAWA, Hidemi
  • TAKEUCHI, Osamu
  • YAMASHITA, Mikio
  • MORITA, Ryuji
国際特許分類(IPC)
欧州特許分類/主・副
  • G01J3/433
  • B82Y15/00
  • G01J3/28S
  • G01N21/64F
  • G01Q30/02
指定国 DE,DK,FR,GB
参考情報 (研究プロジェクト等) CREST Quantum Effects and Related Physical Phenomena AREA
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