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Delay time modulated and femtosecond time-resolved, scanning probe microscope apparatus

外国特許コード F110003255
整理番号 A041-48EP2
掲載日 2011年6月22日
出願国 欧州特許庁(EPO)
出願番号 08011222
公報番号 1967839
出願日 平成14年11月25日(2002.11.25)
公報発行日 平成20年9月10日(2008.9.10)
優先権データ
  • 特願2001-360047 (2001.11.26) JP
発明の名称 (英語) Delay time modulated and femtosecond time-resolved, scanning probe microscope apparatus
  • 出願人(英語)
  • Japan Science and Technology Agency
  • 発明者(英語)
  • Shigekawa, Hidemi
  • Takeuchi, Osamu
  • Yamashita, Mikio
  • Morita, Ryuji
国際特許分類(IPC)
欧州特許分類/主・副
  • G01J3/433
  • B82Y15/00
  • G01J3/28S
  • G01N21/64F
  • G01Q30/02
指定国 DE,DK,FR,GB
参考情報 (研究プロジェクト等) CREST Quantum Effects and Related Physical Phenomena AREA
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