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Optical nonliner evaluation device and optical switching element

外国特許コード F110003360
整理番号 A241-59WO
掲載日 2011年6月23日
出願国 アメリカ合衆国
出願番号 99062706
公報番号 20090251703
公報番号 07652770
出願日 平成20年2月19日(2008.2.19)
公報発行日 平成21年10月8日(2009.10.8)
公報発行日 平成22年1月26日(2010.1.26)
国際出願番号 PCT/JP2006/324359
国際公開番号 WO2007/066686
国際出願日 平成18年12月6日(2006.12.6)
国際公開日 平成19年6月14日(2007.6.14)
優先権データ
  • 特願2005-353505 (2005.12.7) JP
発明の名称 (英語) Optical nonliner evaluation device and optical switching element
発明の概要(英語) An optical nonlinear evaluation device (1) capable of accurately evaluating the optical nonlinearity of a Kerr medium in accordance with a phase difference caused by cross-phase modulation generated in the Kerr medium includes: a polarization Sagnac interference path (3) provided with a Kerr medium (4); an optical pulse light source (7) for supplying a signal beam (Dsig); a polarization beam splitter (PBS1) for splitting the signal beam (Dsig) into a signal beam (Hsig) and a signal beam (Vsig) polarized in a direction orthogonal to the signal beam (Hsig), for supplying the signal beam (Hsig) to a first side of the Kerr medium (4), and for supplying the signal beam (Vsig) to a second side of the Kerr medium (4); a glass plate (14) for entering, onto the signal beam (Hsig), a control beam (Vcont) for causing a change in phase difference between the signal beam (Hsig) and the signal beam (Vsig); separating means for separating the control beam (Vcont) from the signal beam (Hsig) having traveled through the Kerr medium (4); and a detection section (10) provided so as to detect the phase difference between the signal beam (Hsig) and the signal beam (Vsig).
  • 発明者/出願人(英語)
  • Edamatsu, Keiichi; Natori [JP]
  • Shimizu, Ryosuke; Sendai [JP]
  • Matsuda, Nobuyuki; Kakuda [JP]
  • Japan Science and Technology Agency, Saitama [JP]
国際特許分類(IPC)
米国特許分類/主・副
  • 356/491
  • 356/73.1
  • 398/155
参考情報 (研究プロジェクト等) CREST Creation of Nanodevices and System Based on New Physical Phenomena and Functional Principles AREA
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