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Cantilever for Scanning Probe Microscope and Scanning Probe Microscope Equipped With It

外国特許コード F110003386
整理番号 A252-28WO
掲載日 2011年6月23日
出願国 アメリカ合衆国
出願番号 88734806
公報番号 20100154085
公報番号 08601608
出願日 平成18年3月30日(2006.3.30)
公報発行日 平成22年6月17日(2010.6.17)
公報発行日 平成25年12月3日(2013.12.3)
国際出願番号 WO2006JP306648
国際出願日 平成18年3月30日(2006.3.30)
優先権データ
  • 特願2005-100934 (2005.3.31) JP
発明の名称 (英語) Cantilever for Scanning Probe Microscope and Scanning Probe Microscope Equipped With It
発明の概要(英語)

A microscope including both an atomic force microscope and a near-field optical microscope and capable of performing electrochemical measurements and a cantilever for the microscope are disclosed. A pointed light transmitting material employed as the probe of an atomic force microscope is coated with a metal layer

the metal layer is further coated with an insulating layer

the insulating layer is removed only at the distal end to expose the metal layer

the slightly exposed metal layer is employed as a working electrode

and the probe can be employed not only as the probe of the atomic force microscope and the near-field optical microscope but also as the electrode of an electrochemical microscope. Consequently, the microscope can have the functions of an atomic force microscope, a near-field optical microscope and an electrochemical microscope.

  • 発明者/出願人(英語)
  • MARUYAMA KENICHI
  • SUZUKI KOJI
  • IYOKI MASATO
  • JAPAN SCIENCE AND TECHNOLOGY AGENCY
  • SII NANOTECHNOLOGY INC
  • MARUYAMA KENICHI
  • SUZUKI KOJI
  • IYOKI MASATO
国際特許分類(IPC)
米国特許分類/主・副
  • 850/32
  • 850/40
  • 850/51
  • 850/56
  • 850/59
  • 850/60
参考情報 (研究プロジェクト等) CREST Creation of Bio-Devices and Bio-Systems with Chemical and Biological Molecules for Medical Use AREA
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