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Pump probe measuring device and scanning probe microscope apparatus using the device

外国特許コード F110003517
整理番号 AF01-01WO
掲載日 2011年6月28日
出願国 アメリカ合衆国
出願番号 51680007
公報番号 20100088787
公報番号 07961379
出願日 平成21年5月28日(2009.5.28)
公報発行日 平成22年4月8日(2010.4.8)
公報発行日 平成23年6月14日(2011.6.14)
国際出願番号 PCT/JP2007/072988
国際公開番号 WO2008/066090
国際出願日 平成19年11月28日(2007.11.28)
国際公開日 平成20年6月5日(2008.6.5)
優先権データ
  • 特願2006-322662 (2006.11.29) JP
発明の名称 (英語) Pump probe measuring device and scanning probe microscope apparatus using the device
発明の概要(英語) A pump probe measuring device (1) includes an ultrashort optical pulse laser generator (11) for generating a first ultrashort optical pulse train, which becomes a pump light, and a second ultrashort optical pulse train, which becomes a probe light, a delay time adjusting unit (15) for adjusting a delay time between ultrashort optical pulse trains, a first pulse picker and a second pulse picker (13, 14) for accepting each of the first and the second ultrashort optical pulse trains and allowing only one pulse to be transmitted at an arbitrary repetition periodicity, thus reducing the effective repetition frequency of the optical pulses, a delay time modulation unit (10) for periodically changing a position through which pulses are transmitted by the first and the second pulse pickers (13, 14), an irradiation optical system (16) for applying pump light and probe light to a sample (19), a measuring unit (20) for detecting probe signals from a sample (19), and a lock-in amplifier (18).
  • 発明者/出願人(英語)
  • Shigekawa, Hidemi; Tsukuba [JP]
  • Takeuchi, Osamu; Tsukuba [JP]
  • Japan Science and Technology Agency, Saitama [JP]
国際特許分類(IPC)
米国特許分類/主・副
  • 359/331
  • 359/326
  • 850/6
  • 850/21
  • 250/310
  • 250/306
  • 73/800
参考情報 (研究プロジェクト等) CREST Novel Measuring and Analytical Technology Contributions to the Elucidation and Application of Material AREA
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