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HETERODYNE LASER DOPPLER PROBE AND MEASUREMENT SYSTEM USING THE SAME

外国特許コード F110004068
整理番号 N021-08WO
掲載日 2011年7月8日
出願国 欧州特許庁(EPO)
出願番号 06715044
公報番号 1879015
出願日 平成18年3月2日(2006.3.2)
公報発行日 平成20年1月16日(2008.1.16)
国際出願番号 PCT/JP2006/303934
国際公開番号 WO2006/093209
国際出願日 平成18年3月2日(2006.3.2)
国際公開日 平成18年9月8日(2006.9.8)
優先権データ
  • 特願2005-056754 (2005.3.2) JP
発明の名称 (英語) HETERODYNE LASER DOPPLER PROBE AND MEASUREMENT SYSTEM USING THE SAME
  • 出願人(英語)
  • Japan Science and Technology Agency
  • 発明者(英語)
  • KAWAKATSU, Hideki
国際特許分類(IPC)
欧州特許分類/主・副
  • G01Q20/02
  • B82Y15/00
  • G01F1/66A
  • G01P3/36C
指定国 CH,DE,LI
参考情報 (研究プロジェクト等) CREST Nano Factory and Process Monitoring for Advanced Information Processing and Communication AREA
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