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SCANNING PROBE MICROSCOPE

外国特許コード F110004071
整理番号 N021-11WO
掲載日 2011年7月8日
出願国 欧州特許庁(EPO)
出願番号 07790991
公報番号 2048487
出願日 平成19年7月19日(2007.7.19)
公報発行日 平成21年4月15日(2009.4.15)
国際出願番号 PCT/JP2007/064237
国際公開番号 WO2008/015916
国際出願日 平成19年7月19日(2007.7.19)
国際公開日 平成20年2月7日(2008.2.7)
優先権データ
  • 特願2006-207297 (2006.7.31) JP
発明の名称 (英語) SCANNING PROBE MICROSCOPE
  • 出願人(英語)
  • Japan Science and Technology Agency
  • 発明者(英語)
  • KOBAYASHI, Dai
  • NISHIDA, Shuhei
  • KAWAKATSU, Hideki
国際特許分類(IPC)
欧州特許分類/主・副
  • G01Q60/32
  • B82Y15/00
指定国 AT,BE,BG,CH,CY,CZ,DE,DK,EE,ES,FI,FR,GB,GR,HU,IE,IS,IT,LI,LT,LU,LV,MC,MT,NL,PL,PT,RO,SE,SI,SK,TR,AL,BA,HR,MK,RS
参考情報 (研究プロジェクト等) CREST Nano Factory and Process Monitoring for Advanced Information Processing and Communication AREA
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