TOP > 外国特許検索 > Polarization Analysis Device and corresponding method

Polarization Analysis Device and corresponding method

外国特許コード F110004148
整理番号 RX06P05WO
掲載日 2011年7月12日
出願国 欧州特許庁(EPO)
出願番号 04704745
公報番号 1666869
公報番号 1666869
出願日 平成16年1月23日(2004.1.23)
公報発行日 平成18年6月7日(2006.6.7)
公報発行日 平成23年4月27日(2011.4.27)
国際出願番号 PCT/JP2004/000633
国際公開番号 WO2005/029050
国際出願日 平成16年1月23日(2004.1.23)
国際公開日 平成17年3月31日(2005.3.31)
優先権データ
  • 特願2003-363854 (2003.9.17) JP
  • 特願2003-407485 (2003.12.5) JP
  • 特願2003-411786 (2003.12.10) JP
発明の名称 (英語) Polarization Analysis Device and corresponding method
  • 出願人(英語)
  • Photonic Lattice Inc.
  • Japan Science and Technology Agency
  • 発明者(英語)
  • KAWAKAMI, Shojiro
  • SATO, Takashi
  • HASHIMOTO, Naoki
  • SASAKI, Yoshihro
国際特許分類(IPC)
欧州特許分類/主・副
  • G01J4/04
  • G01N21/21B
指定国 AT,BE,BG,CH,CY,CZ,DE,DK,EE,ES,FI,FR,GB,GR,HU,IE,IT,LI,LU,MC,NL,PT,RO,SE,SI,SK,TR
ライセンスをご希望の方、特許の内容に興味を持たれた方は、問合せボタンを押してください。

PAGE TOP

close
close
close
close
close
close