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MEASURING METHOD OF INCIDENT LIGHT AND SENSOR HAVING SPECTROSCOPIC MECHANISM EMPLOYING IT

外国特許コード F110004197
整理番号 Y0386WO
掲載日 2011年7月12日
出願国 欧州特許庁(EPO)
出願番号 04723397
公報番号 1645855
公報番号 1645855
出願日 平成16年3月25日(2004.3.25)
公報発行日 平成18年4月12日(2006.4.12)
公報発行日 平成25年6月19日(2013.6.19)
国際出願番号 WO2004JP04210
国際出願日 平成16年3月25日(2004.3.25)
優先権データ
  • 特願2003-177425 (2003.6.23) JP
発明の名称 (英語) MEASURING METHOD OF INCIDENT LIGHT AND SENSOR HAVING SPECTROSCOPIC MECHANISM EMPLOYING IT
発明の概要(英語)

A method for measuring incident light employing a simple semiconductor structure provided with a single electron-capturing section corresponding to incident light, and a sensor having a spectroscopic mechanism employing the same are provided. A spectroscopic sensor includes a semiconductor substrate (1), a first diffusion layer (2) provided on the semiconductor substrate (1), a second diffusion layer (3) provided at a part of the first diffusion layer (2), and an electrode film (7) provided on the first diffusion layer (2) with an insulating film (4) provided therebetween, the electrode film (7) transmitting the incident light and being applied with a gate voltage.

In the spectroscopic sensor, the gate voltage is varied, the depth (position) for capturing electrons generated in the first diffusion layer (2) by the incident light is varied so as to correspond to the gate voltage, and a current indicating the quantity of the electrons is measured. Thereby, wavelength and intensity of the incident light are measured.

  • 出願人(英語)
  • JAPAN SCIENCE AND TECHNOLOGY AGENCY
  • 発明者(英語)
  • SAWADA, KAZUAKI
  • ISHIDA, MAKOTO
  • MARUYAMA, YUKI
  • MUTO, HIDEKI
国際特許分類(IPC)
指定国 DE
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