TOP > 外国特許検索 > Pump probe measuring device, and scanning probe microscope apparatus using the device

Pump probe measuring device, and scanning probe microscope apparatus using the device

外国特許コード F110004535
整理番号 AF01-01WO
掲載日 2011年7月19日
出願国 中華人民共和国
出願番号 200780050609
公報番号 101595379
公報番号 101595379
出願日 平成19年11月28日(2007.11.28)
公報発行日 平成21年12月2日(2009.12.2)
公報発行日 平成23年4月13日(2011.4.13)
優先権データ
  • 特願2006-322662 (2006.11.29) JP
発明の名称 (英語) Pump probe measuring device, and scanning probe microscope apparatus using the device
発明の概要(英語)

Provided is a pump probe measuring device (1) comprising an ultrashort optical pulse laser generating unit (11) for generating a first ultrashort optical pulse train to become a pump light and a second ultrashort optical pulse train to become a probe light, a delay time adjusting unit (15) for adjusting the delay time of the ultrashort optical pulse train, first and second pulse pickers (13 and 14) for introducing the first and second ultrashort optical pulse trains, respectively, to transmit one pulse at an arbitrary repetition frequency thereby to reduce the effective repetition frequencies of the optical pulses, a delay time modulating unit (10) for changing periodically the selected portions of the pulses to be passed from the first and second pulse pickers (13 and 14), an irradiating optical system (16) for irradiating a specimen (19) with the pump light and the probe light,

and a measurement unit (20) for detecting a probe signal from the specimen (19), and a lock-in detecting unit (18).

  • 出願人(英語)
  • JAPAN SCIENCE & TECH AGENCY
  • 発明者(英語)
  • SHIGEKAWA HIDEMI,
  • TAKEUCHI OSAMU
国際特許分類(IPC)
参考情報 (研究プロジェクト等) CREST Novel Measuring and Analytical Technology Contributions to the Elucidation and Application of Material AREA
ライセンスをご希望の方、特許の内容に興味を持たれた方は、問合せボタンを押してください。

PAGE TOP

close
close
close
close
close
close