TOP > 外国特許検索 > DYNAMIC MODE ATOMIC FORCE MICROSCOPE PROBE VIBRATION SIMULATION METHOD, PROGRAM, RECORDING MEDIUM, AND VIBRATION SIMULATOR

DYNAMIC MODE ATOMIC FORCE MICROSCOPE PROBE VIBRATION SIMULATION METHOD, PROGRAM, RECORDING MEDIUM, AND VIBRATION SIMULATOR

外国特許コード F110004835
整理番号 K01209WO
掲載日 2011年7月22日
出願国 大韓民国
出願番号 20077008210
公報番号 20070057237
公報番号 100903953
出願日 平成19年4月11日(2007.4.11)
公報発行日 平成19年6月4日(2007.6.4)
公報発行日 平成21年6月25日(2009.6.25)
優先権データ
  • 特願2004-321591 (2004.11.5) JP
発明の名称 (英語) DYNAMIC MODE ATOMIC FORCE MICROSCOPE PROBE VIBRATION SIMULATION METHOD, PROGRAM, RECORDING MEDIUM, AND VIBRATION SIMULATOR
発明の概要(英語)

The vibration characteristic of a dynamic AFM probe is simulated. For a given operation parameter (for example, the displacement u0 of the probe, the spring constant k of the cantilever, or the radius of curvature of the probe R1), the plate-spring cantilever to which the probe is attached is vertically moved while being mechanically resonated, and the vibration characteristic of the probe of the dynamic mode atomic force microscope (AFM) for observing the structure of the sample surface is simulated. The vibration information on the probe in the steady state at each initial position u0 (displacement u - time tau) (S103, S104) is recorded, and the movement of the probe is visualized by GUI on the basis of the recorded vibration information.

An essential spectroscopy obtained by the AFM, for example the ampliture a - probe initial position u0 relation or the interaction force F - probe initial position u0 relation is determined and shown on a graph according to the approach/separation of the probe (cantilever) to/from the surface.

  • 出願人(英語)
  • JAPAN SCIENCE AND TECHNOLOGY AGENCY
  • 発明者(英語)
  • SASAKI NARUO,
  • TAKAHASHI TADATAKA
国際特許分類(IPC)
参考情報 (研究プロジェクト等) PRESTO Organization and Function AREA
ライセンスをご希望の方、特許の内容に興味を持たれた方は、問合せボタンを押してください。

PAGE TOP

close
close
close
close
close
close