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OPTICALLY RECONFIGURABLE GATE ARRAY WRITE STATE INSPECTION METHOD, WRITE STATE INSPECTION DEVICE, AND OPTICALLY RECONFIGURABLE GATE ARRAY

外国特許コード F110004920
整理番号 RX05P10WO
掲載日 2011年7月25日
出願国 大韓民国
出願番号 20077001222
公報番号 20070036134
出願日 平成19年1月17日(2007.1.17)
公報発行日 平成19年4月2日(2007.4.2)
優先権データ
  • 特願2004-181913 (2004.6.18) JP
発明の名称 (英語) OPTICALLY RECONFIGURABLE GATE ARRAY WRITE STATE INSPECTION METHOD, WRITE STATE INSPECTION DEVICE, AND OPTICALLY RECONFIGURABLE GATE ARRAY
  • 出願人(英語)
  • JAPAN SCIENCE AND TECHNOLOGY AGENCY,
  • KYUSHU INSTITUTE OF TECHNOLOGY
  • 発明者(英語)
  • WATANABE MINORU,
  • KOBAYASHI FUMINORI
国際特許分類(IPC)
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