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Combinatorial X-ray diffractor

外国特許コード F110005068
整理番号 A051-27US
掲載日 2011年8月18日
出願国 アメリカ合衆国
出願番号 74430401
公報番号 06459763
出願日 平成13年3月26日(2001.3.26)
公報発行日 平成14年10月1日(2002.10.1)
国際出願番号 PCT/JP00/03258
国際公開番号 WO00/73773
国際出願日 平成12年5月22日(2000.5.22)
国際公開日 平成12年12月7日(2000.12.7)
優先権データ
  • 特願平11-149213 (1999.5.28) JP
発明の名称 (英語) Combinatorial X-ray diffractor
発明の概要(英語) A combinatorial X-ray diffractor, particularly a combinatorial X-ray diffractor which can measure one row of samples among a plurality of samples arranged into a matrix simultaneously by X-ray diffraction. For the purpose of high throughput screening, a plurality of samples (10) are arranged into a row X1, a row X2, a row X3, and a row X4 on a sample stage and samples in each row are measured simultaneously by X-ray diffraction, measured data are processed by an information processor (20), information data useful for the evaluation of thin film material are automatically extracted and arranged and the extracted and arranged information data are displayed on a display apparatus (27).
  • 発明者/出願人(英語)
  • Koinuma, Hideomi; Tokyo [JP]
  • Kawasaki, Masashi; Sagamihara [JP]
  • Omote, Kazuhiko; Akiruno [JP]
  • Kikuchi, Tetsuo; Tachikawa [JP]
  • Japan Science and Technology Corporation, [JP]
  • Rigaku Corporation, [JP]
国際特許分類(IPC)
米国特許分類/主・副
  • 378/71
  • 378/79
参考情報 (研究プロジェクト等) CREST Single Molecule and Atom Level Reactions AREA
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