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Method and device for measuring thermoelectric characteristics of combinatorial specimen

外国特許コード F110005087
整理番号 A051-69US
掲載日 2011年8月19日
出願国 アメリカ合衆国
出願番号 45070903
公報番号 20040047398
公報番号 06902317
出願日 平成15年6月24日(2003.6.24)
公報発行日 平成16年3月11日(2004.3.11)
公報発行日 平成17年6月7日(2005.6.7)
国際出願番号 PCT/JP02/02415
国際公開番号 WO02/07529
国際出願日 平成14年3月14日(2002.3.14)
国際公開日 平成14年9月26日(2002.9.26)
優先権データ
  • 特願2001-075954 (2001.3.16) JP
発明の名称 (英語) Method and device for measuring thermoelectric characteristics of combinatorial specimen
発明の概要(英語) A method and device for measuring thermoelectric characteristics of a combinatorial sample. The method and device are useful for rapid sample evaluation, the investigation of thermoelectric materials, and the carrier control of semiconductors. The device includes combinatorial samples patterned with a metal mask, a pair of sample holders for applying a small temperature gradient to the sample, a thermocouple for measuring the temperature gradient, and a probe pin array in contact with the sample.
  • 発明者/出願人(英語)
  • Koinuma, Hideomi; Tokyo [JP]
  • Kawaji, Hitoshi; Kanagawa [JP]
  • Itaka, Kenji; Tokyo [JP]
  • Minami, Hideki; Kanagawa [JP]
  • Japan Science and Technology Corporation, Kawaguchi [JP]
国際特許分類(IPC)
米国特許分類/主・副
  • 374/15
  • 374/112
  • 374/43
  • 374/45
参考情報 (研究プロジェクト等) CREST Single Molecule and Atom Level Reactions AREA
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