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Microchip and analyzing method and device employing it

外国特許コード F110005394
整理番号 K02201WO
掲載日 2011年9月5日
出願国 アメリカ合衆国
出願番号 06445606
公報番号 20090147912
公報番号 07604406
出願日 平成20年6月25日(2008.6.25)
公報発行日 平成21年6月11日(2009.6.11)
公報発行日 平成21年10月20日(2009.10.20)
国際出願番号 PCT/JP2006/317078
国際公開番号 WO2007/026750
国際出願日 平成18年8月30日(2006.8.30)
国際公開日 平成19年3月8日(2007.3.8)
優先権データ
  • 特願2005-254037 (2005.9.1) JP
  • 特願2005-254240 (2005.9.2) JP
発明の名称 (英語) Microchip and analyzing method and device employing it
発明の概要(英語) A plurality of elements can be analyzed simultaneously with high sensitivity using a microchip. The microchip (1) comprises a substrate (30), a channel (23) formed in the substrate (30), and an analyzing part (10) consisting of a part of flat surface of the substrate (30), where the outlet of the channel (23) is formed as an opening (9c) and measurement object liquid overflowed from the opening (9c) stays on the flat surface of the substrate (30) to become a sample of analysis. The measurement object liquid is made to overflow as a sample of analysis to the analyzing part (10) using the microchip (1) and then the sample of analysis is preferably dried before a primary X-ray is made to enter under conditions of total reflection and fluorescent X-rays are detected.
  • 発明者/出願人(英語)
  • Tsuji, Kouichi; Osaka [JP]
  • Kitamori, Takehiko; Tokyo [JP]
  • Tokeshi, Manabu; Kanagawa [JP]
  • Tanaka, Keita; Osaka [JP]
  • Nakano, Kazuhiko; Osaka [JP]
  • Japan Science and Technology Agency, Saitama [JP]
国際特許分類(IPC)
米国特許分類/主・副
  • 378/208
  • 378/79
  • 378/47
参考情報 (研究プロジェクト等) PRESTO Structure Function and Measurement Analysis AREA
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