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Probe apparatus for measuring an electron state on a sample surface

外国特許コード F110005519
整理番号 N051-04US1
掲載日 2011年9月7日
出願国 アメリカ合衆国
出願番号 34637908
公報番号 20090145209
公報番号 07874202
出願日 平成20年12月30日(2008.12.30)
公報発行日 平成21年6月11日(2009.6.11)
公報発行日 平成23年1月25日(2011.1.25)
国際出願番号 PCT/JP2005/005583
国際出願日 平成17年3月25日(2005.3.25)
優先権データ
  • 特願2004-188360 (2004.6.25) JP
発明の名称 (英語) Probe apparatus for measuring an electron state on a sample surface
発明の概要(英語) In a probe apparatus that intermittently irradiates a sample with excitation light to observe the sample while subjecting a cantilever including a probe arranged to face a surface of the sample to self-excited vibration at a predetermined frequency, the sample is irradiated with the excitation light at a predetermined timing when a distance between the probe and the sample is not greater than a predetermined distance.
  • 発明者/出願人(英語)
  • Matsumoto, Takuya; Kyoto [JP]
  • Kawai, Tomoji; Minoo [JP]
  • Japan Science and Technology Agency, Kawaguchi-shi [JP]
国際特許分類(IPC)
米国特許分類/主・副
  • 73/105
  • 850/1
  • 850/6
  • 850/33
  • 850/52
参考情報 (研究プロジェクト等) CREST Creation of Novel Nano-material/System Synthesized by Self-organization for Medical Use AREA
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