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Optically reconfigurable gate array write state inspection method, write state inspection device, and optically reconfigurable gate array

外国特許コード F110005630
整理番号 RX05P10WO
掲載日 2011年9月9日
出願国 アメリカ合衆国
出願番号 62975005
公報番号 20080030225
公報番号 07508234
出願日 平成19年6月4日(2007.6.4)
公報発行日 平成20年2月7日(2008.2.7)
公報発行日 平成21年3月24日(2009.3.24)
国際出願番号 PCT/JP2005/011026
国際公開番号 WO2005/125013
国際出願日 平成17年6月16日(2005.6.16)
国際公開日 平成17年12月29日(2005.12.29)
優先権データ
  • 特願2004-181913 (2004.6.18) JP
発明の名称 (英語) Optically reconfigurable gate array write state inspection method, write state inspection device, and optically reconfigurable gate array
発明の概要(英語) A technology for inspecting a write state without requiring a dedicated circuit for write state inspection of a local circuit in an ORGA. Upon switching an optical signal to be irradiated on an optically reconfigurable bit element as an inspection target from ON to OFF, in the logical circuit structure of the ORGA, first and second optical signal patterns having the optical signal ON/OFF to be irradiated to the optically reconfigurable bit element serving as optical signal patterns configuring the logical structure in which at least one logical level or output impedance changes are sequentially irradiated and input to the logical circuit. In addition, an output-state detection circuit that is connected to the logical output terminals and detects whether the logical level of the output terminal is at an H level, L level, or high impedance detects the output state.
  • 発明者/出願人(英語)
  • Watanabe, Minoru; Iizuka [JP]
  • Kobayashi, Fuminori; Munakata [JP]
  • Japan Science and Technology Institute, [JP]
  • Kyushu Institute of Technology, [JP]
国際特許分類(IPC)
米国特許分類/主・副
  • 326/41
  • 716/16
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