TOP > 外国特許検索 > Method and apparatus for image inspection

Method and apparatus for image inspection 実績あり

外国特許コード F110005769
整理番号 Y0465WO
掲載日 2011年9月14日
出願国 アメリカ合衆国
出願番号 58755905
公報番号 20070230819
公報番号 07769243
出願日 平成18年10月25日(2006.10.25)
公報発行日 平成19年10月4日(2007.10.4)
公報発行日 平成22年8月3日(2010.8.3)
国際出願番号 PCT/JP2005/007468
国際公開番号 WO2005/106437
国際出願日 平成17年4月19日(2005.4.19)
国際公開日 平成17年11月10日(2005.11.10)
優先権データ
  • 特願2004-130734 (2004.4.27) JP
発明の名称 (英語) Method and apparatus for image inspection 実績あり
発明の概要(英語) An image checking process wherein only a defective or differential portion of a checked image is displayed together with its position and wherein no pre-processing is required for image positioning. A computer (3) captures a reference image or Fourier transformed image thereof from a storage part, a CCD camera (1) or a CCD camera (2) to acquire intensity information and phase information, and also captures an identified image or Fourier transformed image thereof from the storage part, CCD camera (1) or CCD camera (2) to acquire intensity information of the Fourier transformed image of the identified image. Then, the computer (3) determines the difference in intensity information between the reference image and the Fourier transformed image of the identified image and further determines an inverse Fourier transformed image of an expression obtained from the determined differential intensity information and the phase information of the reference image to output the inverse Fourier transformed image to an output part or display part. The inverse Fourier transformed image is used to extract, as a difference between the identified image and the reference image, an image defect of the identified image or the image difference between the identified image and the reference image.
  • 発明者/出願人(英語)
  • Shimizu, Isao; Ibaraki [JP]
  • Japan Science and Technology Agency, Saitama [JP]
国際特許分類(IPC)
米国特許分類/主・副
  • 382/275
  • 382/112
ライセンスをご希望の方、特許の内容に興味を持たれた方は、問合せボタンを押してください。

PAGE TOP

close
close
close
close
close
close