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SCANNING PROBE MICROSCOPE

外国特許コード F120006409
整理番号 2008-050EP
掲載日 2012年4月6日
出願国 欧州特許庁(EPO)
出願番号 10735586
公報番号 2392930
出願日 平成22年1月14日(2010.1.14)
公報発行日 平成23年12月7日(2011.12.7)
国際公開番号 WO2010/087114
国際公開日 平成22年8月5日(2010.8.5)
優先権データ
  • 特願2009-021675 (2009.2.2) JP
発明の名称 (英語) SCANNING PROBE MICROSCOPE
発明の概要(英語) 本発明は、安定した探針位置制御を行いながら3次元空間における試料の計測を実現する原子間力顕微鏡に関する。
例えば固液界面において、水分子の分布(水和構造)を原子スケールの分解能でイメージングできる技術である。
  • 出願人(英語)
  • National University Corporation Kanazawa University
  • 発明者(英語)
  • FUKUMA, Takeshi
  • UEDA, Yasumasa
国際特許分類(IPC)
欧州特許分類/主・副
  • B82Y35/00
  • G01Q10/06B
指定国 AT,BE,BG,CH,CY,CZ,DE,DK,EE,ES,FI,FR,GB,GR,HR,HU,IE,IS,IT,LI,LT,LU,LV,MC,MK,MT,NL,NO,PL,PT,RO,SE,SI,SK,SM,TR
(有)金沢大学ティ・エル・オーは、金沢大学の研究者の出願特許を産業界へ技術移転することを主目的として、金沢大学の教官の出資により設立された技術移転機関です。
ご興味のある方は、下記「問合せ先」へ整理番号と共にご連絡願います。
なお、既に活用のお申し込み・お打合わせ等の段階に入っている場合もございますので、予めご承知おきください。

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