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PROBE CARD AND NOISE MEASURING APPARATUS

外国特許コード F130007564
掲載日 2013年7月18日
出願国 世界知的所有権機関(WIPO)
国際出願番号 2012JP075407
国際公開番号 WO 2013/051515
国際出願日 平成24年10月1日(2012.10.1)
国際公開日 平成25年4月11日(2013.4.11)
優先権データ
  • 特願2011-219654 (2011.10.3) JP
発明の名称 (英語) PROBE CARD AND NOISE MEASURING APPARATUS
発明の概要(英語)

Provided are a probe card and a noise measuring apparatus that can measure noises in high frequency bands that are higher than several megahertz. There is included a probe (8) that abuts an MOS field effect transistor (14). In a probe card (6A) for measuring noises of the MOS field effect transistor (14), an amplifier circuit (56A) for amplifying an output signal of the MOS field effect transistor (14) is integrally formed.

  • 出願人(英語)
  • ※2012年7月以前掲載分については米国以外のすべての指定国
  • UNIVERSITY OF TSUKUBA
  • 発明者(英語)
  • OHMORI KENJI,
  • HASUNUMA RYU
国際特許分類(IPC)
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