TOP > 外国特許検索 > PLANAR PATCH CLAMP DEVICE, ELECTRODES FOR SAID DEVICE AND CELL ION CHANNEL CURRENT MEASUREMENT METHOD

PLANAR PATCH CLAMP DEVICE, ELECTRODES FOR SAID DEVICE AND CELL ION CHANNEL CURRENT MEASUREMENT METHOD 新技術説明会

外国特許コード F130007578
整理番号 AF19-03WO
掲載日 2013年7月22日
出願国 世界知的所有権機関(WIPO)
国際出願番号 2012JP081556
国際公開番号 WO 2013/094418
国際出願日 平成24年12月5日(2012.12.5)
国際公開日 平成25年6月27日(2013.6.27)
優先権データ
  • 特願2011-278445 (2011.12.20) JP
  • 特願2012-181786 (2012.8.20) JP
発明の名称 (英語) PLANAR PATCH CLAMP DEVICE, ELECTRODES FOR SAID DEVICE AND CELL ION CHANNEL CURRENT MEASUREMENT METHOD 新技術説明会
発明の概要(英語)

In order to reduce a noise current by suppressing variations in an applied membrane potential in a planar patch clamp device, enabling an ion channel current to be accurately measured, this planar patch clamp device is provided with a liquid reservoir that has at least one fine through-hole disposed on an electrically insulative substrate, and holds a conductive liquid on surfaces on both sides of the through-hole

and electrodes, which are capable of being energized, are disposed in said liquid reservoir. The electrodes are provided with: (a) an electrode vessel, wherein part of the vessel wall comprises an inorganic porous material

(b) an electrode, wherein a noble metal chloride (NmCl) layer is formed on the surface of the noble metal (Nm)

and (c) an electrode solution, wherein the noble metal chloride and an alkali metal chloride are dissolved at a saturated concentration.

  • 出願人(英語)
  • ※2012年7月以前掲載分については米国以外のすべての指定国
  • JAPAN SCIENCE AND TECHNOLOGY AGENCY
  • 発明者(英語)
  • URISU TSUNEO,
  • WANG ZHI-HONG,
  • UNO HIDETAKA,
  • OBULIRAJ SENTHIL KUMAR,
  • NAGAOKA YASUTAKA
国際特許分類(IPC)
参考情報 (研究プロジェクト等) CREST Creation of Nanosystems with Novel Functions through Process Integration AREA
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