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METHOD AND DEVICE FOR MEASUREMENT OF UNOCCUPIED ENERGY LEVELS OF SOLID 新技術説明会

外国特許コード F130007747
掲載日 2013年12月5日
出願国 世界知的所有権機関(WIPO)
国際出願番号 2013JP054952
国際公開番号 WO 2013/129390
国際出願日 平成25年2月26日(2013.2.26)
国際公開日 平成25年9月6日(2013.9.6)
優先権データ
  • 特願2012-042213 (2012.2.28) JP
発明の名称 (英語) METHOD AND DEVICE FOR MEASUREMENT OF UNOCCUPIED ENERGY LEVELS OF SOLID 新技術説明会
発明の概要(英語)

While progressively changing the kinetic energy (acceleration energy) of an electron beam within the range of 0-5 eV, spectra are obtained by measuring the intensity of near-ultraviolet and visible light having a wavelength of 180-700nm that is emitted from a solid sample, such as an organic semiconductor, during irradiation with the electron beam. A peak is detected in the spectra, and the energy level thereof is the unoccupied energy level of the sample. In particular, the energy at the rise of the initial peak represents the electron affinity of the sample. Because the energy of the electron beam irradiated onto the sample is less than or equal to 5eV, even organic semiconductor samples will be largely undamaged.

  • 出願人(英語)
  • ※2012年7月以前掲載分については米国以外のすべての指定国
  • KYOTO UNIVERSITY
  • 発明者(英語)
  • YOSHIDA, HIROYUKI
国際特許分類(IPC)
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