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SCANNING TUNNELING MICROSCOPE AND OBSERVATION IMAGE DISPLAY METHOD

外国特許コード F150008151
整理番号 K02822WO
掲載日 2015年3月17日
出願国 世界知的所有権機関(WIPO)
国際出願番号 2013JP076957
国際公開番号 WO 2014054741
国際出願日 平成25年10月3日(2013.10.3)
国際公開日 平成26年4月10日(2014.4.10)
優先権データ
  • 特願2012-221324 (2012.10.3) JP
発明の名称 (英語) SCANNING TUNNELING MICROSCOPE AND OBSERVATION IMAGE DISPLAY METHOD
発明の概要(英語) A scanning tunneling microscope comprises: a probe; a control unit which controls the distance between the probe and a sample; a voltage imparting unit which imparts a DC voltage between the probe and the sample; a measurement unit which measures a tunneling current which flows between the probe and the sample by the DC voltage; an extraction unit which extracts as an observation value a specified frequency component among instantaneous values of the tunneling current which is measured by the measurement unit; and an observation information generation unit which, on the basis of the observation value which is extracted by the extraction unit, generates observation information which includes information relating to a chemical state of the surface of the sample and/or the internal structure thereof.
  • 出願人(英語)
  • ※2012年7月以前掲載分については米国以外のすべての指定国
  • JAPAN SCIENCE AND TECHNOLOGY AGENCY
  • 発明者(英語)
  • SAITO AKIRA
国際特許分類(IPC)
指定国 National States: AE AG AL AM AO AT AU AZ BA BB BG BH BN BR BW BY BZ CA CH CL CN CO CR CU CZ DE DK DM DO DZ EC EE EG ES FI GB GD GE GH GM GT HN HR HU ID IL IN IS JP KE KG KN KP KR KZ LA LC LK LR LS LT LU LY MA MD ME MG MK MN MW MX MY MZ NA NG NI NO NZ OM PA PE PG PH PL PT QA RO RS RU RW SA SC SD SE SG SK SL SM ST SV SY TH TJ TM TN TR TT TZ UA UG US UZ VC VN ZA ZM ZW
ARIPO: BW GH GM KE LR LS MW MZ NA RW SD SL SZ TZ UG ZM ZW
EAPO: AM AZ BY KG KZ RU TJ TM
EPO: AL AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HR HU IE IS IT LT LU LV MC MK MT NL NO PL PT RO RS SE SI SK SM TR
OAPI: BF BJ CF CG CI CM GA GN GQ GW KM ML MR NE SN TD TG
参考情報 (研究プロジェクト等) PRESTO Structures and control of interfaces AREA
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