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SCAN BIST LFSR SEED GENERATION METHOD AND MEMORY MEDIUM FOR STORING PROGRAM FOR SAME

外国特許コード F150008430
整理番号 S2013-1178-C0
掲載日 2015年10月9日
出願国 世界知的所有権機関(WIPO)
国際出願番号 2014JP069103
国際公開番号 WO 2015008843
国際出願日 平成26年7月17日(2014.7.17)
国際公開日 平成27年1月22日(2015.1.22)
優先権データ
  • 特願2013-148663 (2013.7.17) JP
  • 特願2013-148812 (2013.7.17) JP
  • 特願2014-146027 (2014.7.16) JP
発明の名称 (英語) SCAN BIST LFSR SEED GENERATION METHOD AND MEMORY MEDIUM FOR STORING PROGRAM FOR SAME
発明の概要(英語) Provided is a scan BIST LFSR seed generation method that is provided with procedures for forming a scan BIST seed generation model and for generating an LFSR seed by performing target fault test generation on the formed seed model. The seed generation model is provided with an XOR network configured by subjecting the scan BIST LFSR to time development for the length of a scan pass in a scan FF of a circuit to be inspected, and with a combinational circuit portion for the circuits to be inspected. The XOR network output is connected to the combinational circuit portion.
  • 出願人(英語)
  • ※2012年7月以前掲載分については米国以外のすべての指定国
  • NATIONAL UNIVERSITY CORPORATION OITA UNIVERSITY
  • 発明者(英語)
  • OHTAKE SATOSHI
  • HONDA TARO
  • MORIYASU TAKANORI
国際特許分類(IPC)

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