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SIGNAL DETECTION CIRCUIT AND SCANNING PROBE MICROSCOPE コモンズ

外国特許コード F150008467
掲載日 2015年10月22日
出願国 世界知的所有権機関(WIPO)
国際出願番号 2014JP001198
国際公開番号 WO 2014155983
国際出願日 平成26年3月4日(2014.3.4)
国際公開日 平成26年10月2日(2014.10.2)
優先権データ
  • 特願2013-070575 (2013.3.28) JP
発明の名称 (英語) SIGNAL DETECTION CIRCUIT AND SCANNING PROBE MICROSCOPE コモンズ
発明の概要(英語) A signal detection circuit (1) is provided with: a VCO (23) which generates a reference signal; a complex signal generation circuit which generates a complex signal from an input signal and the reference signal; a vector operation circuit (27) which calculates the argument of the complex signal by a vector operation; and a subtraction-type phase comparator (28) which performs a phase comparison between the argument and the reference signal by a subtraction. The complex signal generation circuit comprises a multiplication circuit (24) which multiplies the input signal and the reference signal, and an HPF (26) which removes a direct-current component from a signal outputted from the multiplication circuit (24).
  • 出願人(英語)
  • ※2012年7月以前掲載分については米国以外のすべての指定国
  • NATIONAL UNIVERSITY CORPORATION KANAZAWA UNIVERSITY
  • 発明者(英語)
  • FUKUMA TAKESHI
  • MIYATA KAZUKI
国際特許分類(IPC)
指定国 National States: AE AG AL AM AO AT AU AZ BA BB BG BH BN BR BW BY BZ CA CH CL CN CO CR CU CZ DE DK DM DO DZ EC EE EG ES FI GB GD GE GH GM GT HN HR HU ID IL IN IR IS JP KE KG KN KP KR KZ LA LC LK LR LS LT LU LY MA MD ME MG MK MN MW MX MY MZ NA NG NI NO NZ OM PA PE PG PH PL PT QA RO RS RU RW SA SC SD SE SG SK SL SM ST SV SY TH TJ TM TN TR TT TZ UA UG US UZ VC VN ZA ZM ZW
ARIPO: BW GH GM KE LR LS MW MZ NA RW SD SL SZ TZ UG ZM ZW
EAPO: AM AZ BY KG KZ RU TJ TM
EPO: AL AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HR HU IE IS IT LT LU LV MC MK MT NL NO PL PT RO RS SE SI SK SM TR
OAPI: BF BJ CF CG CI CM GA GN GQ GW KM ML MR NE SN TD TG
(有)金沢大学ティ・エル・オーは、金沢大学の研究者の出願特許を産業界へ技術移転することを主目的として、金沢大学の教官の出資により設立された技術移転機関です。
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なお、既に活用のお申し込み・お打合わせ等の段階に入っている場合もございますので、予めご承知おきください。

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