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SAMPLE COMPONENT ANALYSIS METHOD, METHOD OF SPECIFIC SEPARATION OF COMPONENTS IN SAMPLE, AND SAMPLE FOR USE IN MASS SPECTROMETRY

外国特許コード F160008637
整理番号 (S2014-0819-N0)
掲載日 2016年1月27日
出願国 世界知的所有権機関(WIPO)
国際出願番号 2015JP063621
国際公開番号 WO 2015178249
国際出願日 平成27年5月12日(2015.5.12)
国際公開日 平成27年11月26日(2015.11.26)
優先権データ
  • 特願2014-103194 (2014.5.19) JP
発明の名称 (英語) SAMPLE COMPONENT ANALYSIS METHOD, METHOD OF SPECIFIC SEPARATION OF COMPONENTS IN SAMPLE, AND SAMPLE FOR USE IN MASS SPECTROMETRY
発明の概要(英語) The purpose of the present invention is to provide a sample component analysis method which analyzes trace components in a sample quickly and accurately, with small sample amounts, and without requiring preprocessing such as concentration. This method of analyzing the components in a sample involves a step for irradiating a thermoplastic resin film that contains the sample with an ionizing laser of a mass spectrometer, and thereby, it is possible to analyze trace components in a sample quickly and accurately, with small sample amounts, and without requiring preprocessing such as concentration.
  • 出願人(英語)
  • ※2012年7月以前掲載分については米国以外のすべての指定国
  • NATIONAL UNIVERSITY CORPORATION NAGOYA UNIVERSITY
  • 発明者(英語)
  • SAWADA MAKOTO
国際特許分類(IPC)
指定国 National States: AE AG AL AM AO AT AU AZ BA BB BG BH BN BR BW BY BZ CA CH CL CN CO CR CU CZ DE DK DM DO DZ EC EE EG ES FI GB GD GE GH GM GT HN HR HU ID IL IN IR IS JP KE KG KN KP KR KZ LA LC LK LR LS LU LY MA MD ME MG MK MN MW MX MY MZ NA NG NI NO NZ OM PA PE PG PH PL PT QA RO RS RU RW SA SC SD SE SG SK SL SM ST SV SY TH TJ TM TN TR TT TZ UA UG US UZ VC VN ZA ZM ZW
ARIPO: BW GH GM KE LR LS MW MZ NA RW SD SL SZ TZ UG ZM ZW
EAPO: AM AZ BY KG KZ RU TJ TM
EPO: AL AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HR HU IE IS IT LT LU LV MC MK MT NL NO PL PT RO RS SE SI SK SM TR
OAPI: BF BJ CF CG CI CM GA GN GQ GW KM ML MR NE SN TD TG
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