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DEVICE FOR MEASURING COHERENCE OF SPIN-POLARIZED ELECTRON BEAM AND USAGE METHOD THEREOF コモンズ

外国特許コード F160008656
整理番号 NU-630
掲載日 2016年1月29日
出願国 世界知的所有権機関(WIPO)
国際出願番号 2015JP077393
国際公開番号 WO 2016056425
国際出願日 平成27年9月28日(2015.9.28)
国際公開日 平成28年4月14日(2016.4.14)
優先権データ
  • 特願2014-208345 (2014.10.9) JP
発明の名称 (英語) DEVICE FOR MEASURING COHERENCE OF SPIN-POLARIZED ELECTRON BEAM AND USAGE METHOD THEREOF コモンズ
発明の概要(英語) In the present invention, the path of a spin-polarized electron beam is separated into two by a separator 6. The spinning direction of the electron beam is rotated by a spinning-direction rotating device 8 disposed on a first advancing path B1, and the electron beam is delayed by a first delaying device 10. On a second advancing path B2, the electron beam passes through a sample table. The portions of the spin-polarized electron beam separated into the first advancing path and the second advancing path are made to overlap each other by a biprism 16, and the intensity distribution of the spin-polarized electron beam is measured. The coherence is measured on the basis of the relationship among the spinning-direction rotation angle, the delay time, and the clarity of interference fringes.
  • 出願人(英語)
  • ※2012年7月以前掲載分については米国以外のすべての指定国
  • NATIONAL UNIVERSITY CORPORATION NAGOYA UNIVERSITY
  • 発明者(英語)
  • KUWAHARA MAKOTO
  • TANAKA NOBUO
  • UJIHARA TORU
  • SAITOH KOH
国際特許分類(IPC)
指定国 National States: AE AG AL AM AO AT AU AZ BA BB BG BH BN BR BW BY BZ CA CH CL CN CO CR CU CZ DE DK DM DO DZ EC EE EG ES FI GB GD GE GH GM GT HN HR HU ID IL IN IR IS JP KE KG KN KP KR KZ LA LC LK LR LS LU LY MA MD ME MG MK MN MW MX MY MZ NA NG NI NO NZ OM PA PE PG PH PL PT QA RO RS RU RW SA SC SD SE SG SK SL SM ST SV SY TH TJ TM TN TR TT TZ UA UG US UZ VC VN ZA ZM ZW
ARIPO: BW GH GM KE LR LS MW MZ NA RW SD SL SZ TZ UG ZM ZW
EAPO: AM AZ BY KG KZ RU TJ TM
EPO: AL AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HR HU IE IS IT LT LU LV MC MK MT NL NO PL PT RO RS SE SI SK SM TR
OAPI: BF BJ CF CG CI CM GA GN GQ GW KM ML MR NE SN ST TD TG
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