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EVALUATION DEVICE AND EVALUATION METHOD FOR MAGNETIC FORCE MICROSCOPE PROBE, MAGNETIC FORCE MICROSCOPE, AND METHOD OF ADJUSTING MAGNETIC FIELD FOR CONTROL OF MAGNETIC FORCE MICROSCOPE 新技術説明会

外国特許コード F160008666
整理番号 (S2014-0987-N0,S2014-1120-N0)
掲載日 2016年2月5日
出願国 世界知的所有権機関(WIPO)
国際出願番号 2015JP064975
国際公開番号 WO 2015182564
国際出願日 平成27年5月25日(2015.5.25)
国際公開日 平成27年12月3日(2015.12.3)
優先権データ
  • 特願2014-107632 (2014.5.24) JP
  • 特願2014-129187 (2014.6.24) JP
発明の名称 (英語) EVALUATION DEVICE AND EVALUATION METHOD FOR MAGNETIC FORCE MICROSCOPE PROBE, MAGNETIC FORCE MICROSCOPE, AND METHOD OF ADJUSTING MAGNETIC FIELD FOR CONTROL OF MAGNETIC FORCE MICROSCOPE 新技術説明会
発明の概要(英語) This evaluation device (11) for a magnetic force microscope probe is provided with a probe excitation unit (111), an AC magnetic field generation unit (112) for applying an AC magnetic field to the probe, an AC magnetic field controller (113) for controlling the AC magnetic field generation unit, a probe vibration detection unit (114) for detecting vibration of the probe and generating a vibration detection signal, a spectrum measurement unit (115) for measuring the spectrum of the vibration detection signal corresponding to the intensity of the AC magnetic field, an SBI extraction unit (116) for extracting side band intensity appearing in the spectrum, an SBI variation measurement unit (117), and an evaluation result output unit (119).
  • 出願人(英語)
  • ※2012年7月以前掲載分については米国以外のすべての指定国
  • AKITA UNIVERSITY
  • 発明者(英語)
  • SAITO HITOSHI
  • KINOSHITA YUKINORI
  • YOSHIMURA SATORU
国際特許分類(IPC)
指定国 National States: AE AG AL AM AO AT AU AZ BA BB BG BH BN BR BW BY BZ CA CH CL CN CO CR CU CZ DE DK DM DO DZ EC EE EG ES FI GB GD GE GH GM GT HN HR HU ID IL IN IR IS JP KE KG KN KP KR KZ LA LC LK LR LS LU LY MA MD ME MG MK MN MW MX MY MZ NA NG NI NO NZ OM PA PE PG PH PL PT QA RO RS RU RW SA SC SD SE SG SK SL SM ST SV SY TH TJ TM TN TR TT TZ UA UG US UZ VC VN ZA ZM ZW
ARIPO: BW GH GM KE LR LS MW MZ NA RW SD SL SZ TZ UG ZM ZW
EAPO: AM AZ BY KG KZ RU TJ TM
EPO: AL AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HR HU IE IS IT LT LU LV MC MK MT NL NO PL PT RO RS SE SI SK SM TR
OAPI: BF BJ CF CG CI CM GA GN GQ GW KM ML MR NE SN TD TG
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