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有機ELおよびそのテスト方法

国内特許コード P150011752
掲載日 2015年3月30日
出願番号 特願2012-511122
公表番号 特表2012-527715
登録番号 特許第5716015号
出願日 平成21年12月30日(2009.12.30)
公表日 平成24年11月8日(2012.11.8)
登録日 平成27年3月20日(2015.3.20)
国際出願番号 CN2009076257
国際公開番号 WO2010139175
国際出願日 平成21年12月30日(2009.12.30)
国際公開日 平成22年12月9日(2010.12.9)
優先権データ
  • 200910084979.4 (2009.6.5) CN
発明者
  • 邱勇
  • 彭兆基
  • 鐘馨義
  • 孫劍
出願人
  • 北京維信諾科技有限公司
  • 昆山維信諾顕示技術有限公司
  • 清華大学
発明の名称 有機ELおよびそのテスト方法
発明の概要 発光領域、リード領域、ボンディング領域とリード延長領域(300)を含む有機ELであって、発光領域は陽極、有機機能層、陰極を含み;リード領域は陽極と陰極をドライバチップまたは回路基板と接続するリードを含み;ボンディング領域はリードとドライバチップまたは回路基板が接続される領域であり;リードの末端はリード延長領域に位置しており、リード延長領域のリードとリード領域のリードは平行または所定の角度を形成している有機ELを提供する。また有機ELのテスト方法を提供する。有機ELのリード配置を変えることにより、導電性テープとリードをより容易かつ正確に圧着することができ、パネル体テスト工程において行リードと列リードがショートするのを防ぐことができる。
従来技術、競合技術の概要



OLEDとは、キャリヤーが電界の働きで陽極、陰極より有機機能層に入り込み複合して発光する現象を利用したフラットパネルディスプレイである。OLEDは、全体が固体状態、自己発光、ハイコントラスト、極めて薄い、柔軟ディスプレイが実現可能などの特徴を持つ。



従来の電子デバイスは、工場出荷前に全てテスト、エイジングなどのプロセスを経て、デバイスの性能をテストする。様々なチップボンディング技術に対し、テスト・エイジング段階ではそれぞれの問題が現れる。COG(Chip on glass)方式を採用しパネル体とチップをボンティングする場合、OLEDは、図1-1及び図1-2に示すように、基板103と発光領域102を含み、発光領域102は基板103上に位置する陽極1002、有機機能層1003と陰極1004からなる。発光領域102の左右両側及び下端にはリード領域101が設置され、リード領域101の下端にボンディング領域104を設置する。奇数行リード101[1]は発光領域102の左側より引き出され、偶数行リード101[2]は発光領域102の右側より引き出され、左側列リード101[3]と右側列リード101[4]は発光領域102の下側より引き出される。行方向リード及び列方向リードは別々に引き出された後、互い絶縁的にボンディング領域104に集まり、基板の片側にてボンディングされ、即ち片側ボンディングされる。



図示をはっきりさせるため、全ての行、列方向リードを表していない。COG型パネル製品は、リード同士の隙間が小さすぎるため、狭すぎるスペースにはさらに幅が狭い導電性テープを用いざるを得ず、結果として導電性テープとリードが圧着される際、(1)導電性テープがずれることによりパネル体のショートを引き起こし易い、(2)導電性テープの寿命が縮まる、(3)リードが折れやすくなるなどの問題点がある。リード同士の隙間がテスト、エイジング装置で実現できる最小アライメント精度よりも小さい場合、フルスクリーン発光(short bar)方式でパネル体を発光させることができず、パネル体のテストとエイジングを行うことができなくなる。そのため、製品の欠陥はドライバチップと組み合わせた後でしか発見されない。従来、この種の製品に対して、パネル体テストとエイジングができず、高い良品率を保証するのは困難であった。



OLEDのリードはホトリソグラフィ技術を採用して制作され、重要なプロセス条件として、エッチング温度、速度、時間、エッチング液の濃度などが挙げられる。いずれのプロセスパラメータが正確に制御されない場合、オーバーエッチングを引き起こす可能がある。リード延長領域を設けない場合、リードの末端がドライバチップとボンディングされることになる。オーバーエッチングされたリードはボンディングに必要な長さより短いため、これらオーバーエッチングされたリードは相応のチップピンと接触できなく、または接触不良になり、結果として、発光領域内の対応する行または列が発光できなくなる。図2-1に示すように、左側列リード201、右側列リード202にオーバーエッチングが生じ、その長さはボンディングに必要な長さより短いため、チップピンと接触できない。ボンディング位置を上方へ移動させれば、図2-2に示すように、左側列リード201、右側列リード202は正常にボンディングされることができるが、この場合、チップピンが左側列リード203、右側列リード204の湾曲した部位にまで伸びてしまい、左側列リード203、右側列リード204は相応のチップピンと正常にボンディングされることができない。

産業上の利用分野



本発明は有機EL(Organic Light Emitting Device、以下OLEDと称す)およびそのテスト方法に関し、特にOLEDのリードの設計に関する。

特許請求の範囲 【請求項1】
基板の上縁から下縁に向けて順に並ぶ発光領域、リード領域、ボンディング領域を含む有機ELであって、
発光領域は陽極、有機機能層、陰極を含み、
リード領域は陽極と陰極をドライバチップまたは回路基板に接続するリードで構成され、
ボンディング領域はリードとドライバチップまたは回路基板とが接続される領域であり、
更に、リード延長領域を含み、このリード延長領域は、前記ボンディング領域の前記リード領域の反対側に位置し、
前記リードの末端が前記ボンディング領域を超えて前記リード延長領域に位置しており、
リード延長領域の前記リードと、前記基板の下縁に垂直な垂直方向が形成する角度は0°より大きく90°未満であることを特徴とする有機EL。

【請求項2】
リード延長領域の前記リードと前記垂直方向が形成する角度は、20°より大きく80°未満であることを特徴とする請求項1に記載の有機EL。

【請求項3】
リード延長領域の前記リードと前記垂直方向が形成する角度は、30°、45°、60°あるいは75°であることを特徴とする請求項1に記載の有機EL。

【請求項4】
前記リードには片側ボンディングを採用し、リードはそれぞれ奇数行リード、偶数行リード、左列リードと右列リードであり、列リードは中央部に位置し、奇数行リード及び偶数行リードはそれぞれ列リードの両側に位置することを特徴とする請求項1から3のいずれか1項に記載の有機EL。

【請求項5】
前記リード延長領域の左列リード(401[3])と右列リード(401[4])は互いに離れる方向に伸びるとともに、互いに交差しないことを特徴とする請求項4に記載の有機EL。

【請求項6】
前記リード延長領域の奇数行リード(401[1])と偶数行リード(401[2])は向かい合う方向に伸び、前記左列リード(401[3])、右列リード(401[4])、奇数行リード(401[1])、偶数行リード(401[2])はいずれも互いに交差しないことを特徴とする請求項5に記載の有機EL。

【請求項7】
前記リード延長領域の奇数行リード(501[1])と偶数行リード(501[2])は互いに離れる方向に伸び、前記左列リード(501[3])、右列リード(501[4])、奇数行リード(501[1])、偶数行リード(501[2])はいずれも互いに交差しないことを特徴とする請求項5に記載の有機EL。

【請求項8】
前記リード延長領域の左列リード(701[3])と右列リード(701[4])は向かい合う方向に伸びるとともに、互いに交差しないことを特徴とする請求項4に記載の有機EL。

【請求項9】
前記リード延長領域の奇数行リード(701[1])と偶数行リード(701[2])は向かい合う方向に伸び、前記左列リード(701[3])、右列リード(701[4])、奇数行リード(701[1])、偶数行リード(701[2])はいずれも互いに交差しないことを特徴とする請求項8に記載の有機EL。

【請求項10】
前記リード延長領域の奇数行リード(801[1])と偶数行リード(801[2])は互いに離れる方向に伸び、前記左列リード(801[3])、右列リード(801[4])、奇数行リード(801[1])、偶数行リード(801[2])はいずれも互いに交差しないことを特徴とする請求項8に記載の有機EL。

【請求項11】
前記リード延長領域のリードはリード領域のリードより少ないことを特徴とする請求項1から3のいずれか1項に記載の有機EL。

【請求項12】
前記リード延長領域のリードの長さは0.1mm~0.5mmであることを特徴とする請求項1から3のいずれか1項に記載の有機EL。

【請求項13】
請求項1から12のいずれか1項に記載の有機ELに使用されるテスト方法であって、
a)前記有機ELの前記リード延長領域にそれぞれ設置され、それぞれの離れた距離がテスト装置の最小アライメント精度よりも大きい導電性材料を設置し、点灯待機の行リードをショートさせるとともに、点灯待機の列リードをショートさせるステップと、
b)ステップa)にてショートさせた行または列リードに点灯電圧を与えるステップと、
c)テストの状況に基づきテスト結果を出すステップと、を含むことを特徴とする有機ELのテスト方法。

【請求項14】
前記ステップa)では全ての奇数行リードをショートさせ、全ての偶数行リードをショートさせ、全ての列リードをショートさせることを特徴とする請求項13に記載の有機ELのテスト方法。

【請求項15】
前記ステップa)では全ての行リードをショートさせ、全ての列リードをショートさせることを特徴とする請求項13に記載の有機ELのテスト方法。

【請求項16】
前記導電性材料は金属フィルムまたは導電性テープであることを特徴とする請求項13に記載の有機ELのテスト方法。
国際特許分類(IPC)
Fターム
画像

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JP2012511122thum.jpg
出願権利状態 登録
分野
  • 電気
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