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検査システム、検査方法、CT装置及び検出装置

国内特許コード P150011610
掲載日 2015年3月30日
出願番号 特願2008-279979
公開番号 特開2009-109499
出願日 平成20年10月30日(2008.10.30)
公開日 平成21年5月21日(2009.5.21)
優先権データ
  • 200710176528.4 (2007.10.30) CN
発明者
  • 張 麗
  • 陳 志強
  • 胡 海峰
  • 李 元景
  • 劉 以農
  • 孫 尚民
  • 張 文宇
  • ▲しん▼ 宇翔
出願人
  • 清華大学
  • 同方威視技術股▲分▼有限公司
発明の名称 検査システム、検査方法、CT装置及び検出装置
発明の概要 【課題】本発明に係る検出装置によれば、検出装置の有効な検出面積を増大させることにより、検出器の列数を有効に減少させて、検出装置のコストを下げることができる。
【解決手段】本発明は、スリップリングと、スリップリングに接続した放射線源と、放射線源に対向しスリップリングに接続した検出装置とを備えるCT装置と、被検体を搬送する搬送装置とを備え、その中で前記検出装置はN列の検出器を備え、且つ、隣接する2つの列の前記検出器の間に所定の間隔を有し、その中でNは1より大きい整数である、検査システムを提供する。本発明によるCT装置では、CT装置の高速スキャン結像を実現し、CT装置と2次元画像を取得するためのスキャン結像装置とを同時に使用することが可能になるので、相互の不足を補うことができる。
【選択図】図3
従来技術、競合技術の概要 CT装置におけるスキャン速度の問題を解決するために、通常の方法、例えば、国際特許出願公開 WO2005/119297号では複数列の検出器を使用する。それは毎回複数列のデータを同時に採集することができる。しかしながら検出器はコストが高いので、列数を大幅に増加することは現実的でない。

【特許文献1】国際特許出願公開 WO2005/119297号パンフレット

産業上の利用分野 本発明は、検査システム、検査方法、CT装置及び検出装置に関する。

特許請求の範囲 【請求項1】
スリップリングと、スリップリングに接続した放射線源と、放射線源に対向しスリップリングに接続した検出装置とを備えるCT装置と、
被検体を搬送する搬送装置とを備え、その中で前記検出装置はN列の検出器を備え、且つ、隣接する2つの列の前記検出器の間に所定の間隔を有し、その中でNは1より大きい整数である、検査システム。

【請求項2】
前記所定の間隔は5mm~80mmである、請求項1に記載の検査システム。

【請求項3】
前記所定の間隔は30mm~50mmである、請求項1に記載の検査システム。

【請求項4】
スリップリングが360度回転する毎の検査領域において、列毎に検出器は該領域の360/N度の扇形部分を検査すると共に、スリップリングが360/N度の回転毎に、搬送装置が物体を移動する距離は隣接する2つの列の検出器間の中心距離である、請求項1に記載の検査システム。

【請求項5】
さらに、2次元画像を取得するためのスキャン結像装置を含み、CT装置による被検体の3次元画像の取得と前記2次元画像を取得するためのスキャン結像装置による2次元画像の取得が同時に行われるように、前記CT装置と前記2次元画像を取得するためのスキャン結像装置とを同時運行することができる、請求項1に記載の検査システム。

【請求項6】
前記CT装置と前記2次元画像を取得するためのスキャン結像装置とが同時運行する速度を0.18~0.25m/sとする、請求項5に記載の検査システム。

【請求項7】
被検体を搬送することと、
スリップリングと、スリップリングに接続した放射線源と、放射線源に対向しスリップリングに接続した検出装置とを備えるCT装置により該物体を検査することとを含み、
その中で前記検出装置はN列の検出器を備え、且つ、隣接する2つの列の前記検出器の間に所定の間隔を有し、その中でNは1より大きい整数である、検査方法。

【請求項8】
スリップリングが360/N度回転する毎に、搬送装置が物体を移動する距離は隣接する2つの列の検出器の中心間距離である、請求項7に記載の検査方法。

【請求項9】
前記所定の間隔は5mm~80mmである、請求項7に記載の検査方法。

【請求項10】
前記所定の間隔は30mm~50mmである、請求項7に記載の検査方法。

【請求項11】
さらに、2次元画像を取得するためのスキャン結像装置で前記物体を検査することを含み、CT装置による被検体の3次元画像の取得と2次元画像を取得するためのスキャン結像装置による2次元画像の取得とが同時に行われるように、前記CT装置と前記2次元画像を取得するためのスキャン結像装置とを同時運行することができる、請求項7に記載の検査方法。

【請求項12】
前記CT装置と前記2次元画像を取得するためのスキャン結像装置とが同時運行する速度を0.18~0.25m/sとする、請求項7に記載の検査方法。

【請求項13】
スリップリングと、スリップリングに接続した放射線源と、放射線源に対向しスリップリングに接続した検出装置とを備え、
その中で前記検出装置はN列の検出器を備え、且つ、隣接する2つの列の前記検出器間に所定の間隔を有し、その中でNは1より大きい整数である、CT装置。

【請求項14】
前記所定の間隔は5mm~80mmである、請求項13に記載のCT装置。

【請求項15】
前記所定の間隔は30mm~50mmである、請求項13に記載のCT装置。

【請求項16】
N列の検出器を備え、且つ、隣接する2つの列の前記検出器の間に所定の間隔を有し、その中でNは1より大きい整数である、CT装置に用いられる検出装置。

【請求項17】
前記所定の間隔は5mm~80mmである、請求項16に記載のCT装置に用いられる検出装置。

【請求項18】
前記所定の間隔は30mm~50mmである、請求項16に記載のCT装置に用いられる検出装置。
国際特許分類(IPC)
Fターム
画像

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JP2008279979thum.jpg
出願権利状態 公開
分野
  • 物理学
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