TOP > 中国の大学の特許 > 北京大学の特許一覧 > 画像処理装置および画像処理方法

画像処理装置および画像処理方法

国内特許コード P150011640
掲載日 2015年3月30日
出願番号 特願2009-291126
公開番号 特開2010-171959
登録番号 特許第5273869号
出願日 平成21年12月22日(2009.12.22)
公開日 平成22年8月5日(2010.8.5)
登録日 平成25年5月24日(2013.5.24)
優先権データ
  • 200810240534.6 (2008.12.23) CN
発明者
  • 六尾 敏明
  • リー ピンリ
  • ユエン モンヨウ
  • ワン ゾンユ
出願人
  • 京セラドキュメントソリューションズ株式会社
  • 方正国際軟件(北京)有限公司
  • 北京大学
発明の名称 画像処理装置および画像処理方法
発明の概要 【課題】注目画素がエッジ上に位置しているか否かの判定を容易かつ正確に行うことができる画像処理装置および画像処理方法を提供する。
【解決手段】エッジ検出手段110は、入力された原画像データに対して、エッジ検出フィルタを適用させる演算を行うことにより、原画像データにおけるエッジ位置およびエッジ位置におけるエッジ方向を検出する。距離算出手段120は、エッジ検出フィルタの中心に位置する注目画素を通りエッジ方向に垂直なエッジ基準線と、エッジ位置の各画素との距離の平均値を、エッジ方向毎に算出する。判定手段130は、距離算出手段120により算出された距離の平均値に基づき、注目画素がエッジ上に位置しているか否かの判定を行う。
【選択図】図1
従来技術、競合技術の概要



原画像を二値化して印刷するプリンタなどの装置は、印刷する前に、原画像にスクリーニング処理を施す必要がある。スクリーニング処理された後のスクリーニング画像は、連続階調画像からなる原画像と比較すると、離散的なので、直接にスクリーニング画像を処理するのはかなり難しい。従って、従来は、スクリーニング画像を処理する前に、まずスクリーニング画像のエッジ強度(およびエッジ方向)を確認してから処理していた。

例えば特許文献1には、スクリーニング画像において、エッジを検出し、検出されたエッジに対して平滑化処理を行う例が開示されている。

産業上の利用分野



本発明は画像処理装置および画像処理方法に係り、特に注目画素がエッジ上に位置しているか否かを判定する技術に関する。

特許請求の範囲 【請求項1】
原画像データに対して、N行×N列(Nは3以上の奇数)のエッジ検出フィルタを適用さ
せる演算を行うことにより、前記原画像データにおけるエッジ位置および前記エッジ位置におけるエッジ方向を検出するエッジ検出手段と、
前記エッジ検出フィルタの中心に位置する注目画素を通り前記エッジ方向に垂直なエッジ基準線と、前記エッジ位置の各画素との距離の平均値を、前記エッジ方向毎に算出する距離算出手段と、
前記距離算出手段により算出された前記距離の平均値に基づき、前記注目画素がエッジ上に位置しているか否かの判定を行う判定手段と
を備え
前記判定手段は、前記エッジ方向毎に算出された前記距離の平均値のうち全前記エッジ方向に関して最小の値を所定の閾値と比較することにより、前記判定を行う
画像処理装置。

【請求項2】
請求項1に記載の画像処理装置であって、
前記距離算出手段は、前記画素と前記エッジ基準線との位置関係に応じて前記距離に正または負の符号を付与する
画像処理装置。

【請求項3】
請求項1又は2に記載の画像処理装置であって、
前記判定手段により前記注目画素がエッジ上にあると判定された場合に前記注目画素に基づき平滑化処理を行う平滑化手段
を更に備える画像処理装置。

【請求項4】
原画像データに対して、N行×N列(Nは3以上の奇数)のエッジ検出フィルタを適用さ
せる演算を行うことにより、前記原画像データにおけるエッジ位置および前記エッジ位置におけるエッジ方向を検出するエッジ検出ステップと、
前記エッジ検出フィルタの中心に位置する注目画素を通り前記エッジ方向に垂直なエッジ基準線と、前記エッジ位置の各画素との距離の平均値を、前記エッジ方向毎に算出する距離算出ステップと、
前記距離算出ステップにより算出された前記距離の平均値に基づき、前記注目画素がエッジ上に位置しているか否かの判定を行う判定ステップと
を備え、
前記判定ステップは、前記エッジ方向毎に算出された前記距離の平均値のうち全前記エッジ方向に関して最小の値を所定の閾値と比較することにより、前記判定を行うステップを備える画像処理方法。
国際特許分類(IPC)
Fターム
画像

※ 画像をクリックすると拡大します。

JP2009291126thum.jpg
出願権利状態 登録
分野
  • 電気
  • 物理学
※ 特許の内容に興味を持たれた方は、下記問合せ先にご相談下さい。


PAGE TOP

close
close
close
close
close
close