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SURFACE PROFILE MEASUREMENT METHOD UNDER LIQUID AND ITS SYSTEM NEW_EN

Patent code P170014374
File No. 108
Posted date Jul 7, 2017
Application number P2005-005824
Publication number P2006-194705A
Patent number P4729694
Date of filing Jan 13, 2005
Date of publication of application Jul 27, 2006
Date of registration Apr 28, 2011
Inventor
  • (In Japanese)山野 博哉
  • (In Japanese)鈴木 康弘
  • (In Japanese)村瀬 暁美
  • (In Japanese)宮下 由子
  • (In Japanese)大川 直人
  • (In Japanese)谷 朋美
  • (In Japanese)田中 美穂
Applicant
  • (In Japanese)国立研究開発法人国立環境研究所
  • (In Japanese)山野 博哉
  • (In Japanese)鈴木 康弘
Title SURFACE PROFILE MEASUREMENT METHOD UNDER LIQUID AND ITS SYSTEM NEW_EN
Abstract PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a surface profile measurement method under liquid and its system in which compensation for determining the depth from a liquid surface to an object is considered by photographing position information for an image and the refractive index of the liquid.
SOLUTION: The surface profile measurement method under liquid comprises a data creation section 1 which performs digital mapping on a stereoscopic image using a digital mapping device and creates data on position information 2 of an image photographing device A placed on the left, position information 3 of an image photographing device B placed on the right, and a DEM value 4 and a computer 10 comprising a refractive index value input section 11, a calculation section 12 for calculating lateral liquid surface reaching coordinates, a lateral incident angle, and a lateral refraction angle, a two-dimension/three-dimension decision section 13, a two-dimensional true value calculation section 14, a decision section 15 for the three-dimensional incident angles of the two image photographing devices, a calculation section 16 for the case in which the three-dimensional incident angles are the same, a calculation section 17 for the case in which the three-dimensional incident angles are different, a creation section 18 for creating the surface profile of the object under liquid on the basis of the calculated two-dimensional and three-dimensional true values, and a storage section 19 for storing information of above-described sections.
Outline of related art and contending technology (In Japanese)


物体の表面の形状を計測するには、レーザー光を用いる方法や、超音波を用いる方法があるが、特にステレオ画像を用いる方法は、物体形状を平面的に手軽に把握できる方法として盛んに用いられている。
ステレオ画像の最も効果的な使用法の一つは、デジタル写真測量であり、ステレオペアの空中写真をデジタル図化機を用いて図化することにより陸上の地形図が作成されてきた(下記特許文献1,2参照)。また、地形図作成以外にも、ステレオペアの画像は距離の計測(下記特許文献3参照)や、眼底3次元データの取得(下記特許文献4参照)などに用いられている。
【特許文献1】
特開平8-210851号公報
【特許文献2】
特開平9-069148号公報
【特許文献3】
特開2000-356514号公報
【特許文献4】
特開平8-000567号公報

Field of industrial application (In Japanese)


本発明は、ステレオ画像を用いて、液体下の物体表面の形状を計測することのできる液体下の表面形状測定方法及びそのシステムに関するものである。

Scope of claims (In Japanese)
【請求項1】
 
ステレオ画像に対して、デジタル図化機を用いてデジタルマッピングを行う液体下の表面形状計測方法であって、
前記ステレオ画像をデジタル化する工程と、
解析範囲に所定の配列で基準地点群を設定して各々の基準地点の平面座標値を記憶する工程と、
前記解析範囲において基準地点群の位置及び標高値を用いて各々の画素の標高を測定して計算する工程と、
液体の屈折率と画像撮影位置情報により浅く見えている割合を補正する補正係数を算出する工程と、
前記補正係数を用いて液体下の物体の真の深度を得る工程と、
を有することを特徴とする液体下の表面形状測定方法。

【請求項2】
 
ステレオ画像に対して、デジタル図化機を用いてデジタルマッピングを行う液体下の表面形状計測システムであって、
(a)ステレオ画像に対してデジタル図化機を用いてデジタルマッピングを行い、左側に位置する画像撮影装置Aの位置情報、右側に位置する画像撮影装置Bの位置情報、DEM値のそれぞれのデータを生成するデータ生成部と、
(b)左右水面到達座標、左右入射角、左右屈折角の演算を行う演算部と、撮影位置の判別部と、屈折率の入力を行う屈折率値の入力部と、画像撮影装置2機の真下の点を結ぶ直線上に対象点がある時を2次元、それ以外の時を3次元としたときの2次元・3次元の判別部と、2次元と判別された場合に対象とする物体の表面の位置の値である真値を演算する演算部と、3次元である場合に画像撮影装置2機の入射角の異同を判別する判別部と、該判別部により入射角が等しいと判別された場合に対象とする物体の表面の位置の値である真値を演算する演算部と、前記入射角が異なると判別された場合に対象とする物体の表面の位置の値である真値を演算する演算部と、前記演算された2次元、3次元の場合の対象とする物体の表面の位置の値である真値に基づいて、液体下の物体の表面形状を生成する生成部と、上記した各部の情報を記憶する記憶部とを有するコンピュータとを具備することを特徴とする液体下の表面形状計測システム。

【請求項3】
 
請求項2記載の液体下の表面形状計測システムにおいて、計測された前記液体下の物体の表面形状の情報を画面に表示する出力部を具備することを特徴とする液体下の表面形状計測システム。
IPC(International Patent Classification)
F-term
Drawing

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JP2005005824thum.jpg
State of application right Registered
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