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磁性体を含む材料の検査方法及び装置

国内特許コード P06A009705
掲載日 2007年3月2日
出願番号 特願2005-057442
公開番号 特開2006-242701
登録番号 特許第4660751号
出願日 平成17年3月2日(2005.3.2)
公開日 平成18年9月14日(2006.9.14)
登録日 平成23年1月14日(2011.1.14)
発明者
  • 小竹 茂夫
  • 川上 博士
  • 長谷 浩一
  • 太田 充洋
  • 鈴木 泰之
  • 青山 智胤
出願人
  • 学校法人三重大学
発明の名称 磁性体を含む材料の検査方法及び装置
発明の概要

【課題】 事故や災害等で破壊された、磁性体を含む材料からなる機械や建築物において、破壊形態の推定や亀裂開始点の位置、亀裂進展方向、応力分布等を、試料の大きさによらず、簡便かつ詳細に知ることのできる測定方法及び測定装置を提供する。
【解決手段】磁束密度センサーを用い、かつ少なくとも磁性体を含む材料の破断面を用いて、磁束密度を測定する。又、該磁束密度センサーと、該材料の破断面との距離を概一定に保ち、破断面の磁束密度を測定する。
【選択図】 図1

従来技術、競合技術の概要


従来、鉄鋼材料等の強磁性体を含む材料は、磁歪効果の逆に相当する「逆磁歪効果」が存在し、弾性変形等、外部応力の負荷に比例して透磁率や磁化などの磁性の性質が変化するため、それを使った非破壊検査や塑性変形状態の解析が、広く試みられてきた。例えば、非特許文献1では、磁気センサーとしてホール素子(磁束密度センサー)を用いた走査ホール素子顕微鏡によって、材料の内部応力と磁場強度を測定し、それを非破壊検査に使うことが示された。



一方、事故調査や製品の品質管理、製造プロセスなどにおいて、破壊形態を解析する必要性がある場合、その多くは、破面形態の単なる観察(光学又は電子顕微鏡を使用)から得られる情報を元にしたフラクトグラフィーにより、脆性破壊、延性破壊、疲労破壊、亀裂開始点などの判定を行ってきた。例えば、特許文献1が公知である。




【非特許文献1】太田昭男他、電気学会論文誌A, 123巻7号(2003)p.611-617.




【特許文献1】特開2000-266613号公報

産業上の利用分野


本発明は、磁性体を含む材料の破面における破断時の破面進展方向や亀裂起点、延性・脆性破壊、破壊進行時の応力等の分布を測定する検査方法及び検査装置に関するものである。

特許請求の範囲 【請求項1】
磁性体を含む材料の破断原因を調べる検査方法において、
前記材料の破断表面上に磁束密度センサーを配置し、前記破断表面と前記磁束密度センサーとの距離を略一定に保持して3次元的に移動走査させて磁場強度と磁場ベクトルを測定し、
前記磁場ベクトルの強度が最大になる点を内部亀裂開始点と判断することを特徴とする磁性材料の破断面検査方法。

【請求項2】
磁性体を含む材料の破断原因を調べる検査装置であって、
前記材料の破断表面上に磁束密度センサーを配置し、前記破断表面と前記磁束密度センサーとの距離を略一定に保持して3次元的に移動走査させて磁場強度と磁場ベクトルを測定し、
前記磁場ベクトルの強度が最大になる点を内部亀裂開始点と判断することを特徴とする磁性材料の破断面検査装置。
産業区分
  • 試験、検査
  • 測定
国際特許分類(IPC)
Fターム
画像

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JP2005057442thum.jpg
出願権利状態 権利存続中
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