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生体計測装置および生体計測方法

国内特許コード P07A012874
整理番号 PA17-077
掲載日 2008年1月18日
出願番号 特願2006-001773
公開番号 特開2007-181566
登録番号 特許第4630194号
出願日 平成18年1月6日(2006.1.6)
公開日 平成19年7月19日(2007.7.19)
登録日 平成22年11月19日(2010.11.19)
発明者
  • 近江 政雄
出願人
  • 学校法人金沢工業大学
発明の名称 生体計測装置および生体計測方法
発明の概要 【課題】MEGによるデータをMRI画像上に正しく重ねる。
【解決手段】第1撮像部は、第1マーカが取り付けられた状態で人体の内部を撮像し、第1マーカが投影されたMRI画像を取得する。第2撮像部は、第1マーカが取り付けられた状態で人体の外部を撮像し、第1マーカの取り付け位置を示す外観画像を取得する。照射部は、外観画像を参照して第1マーカが取り付けられていた人体上の位置を照射する。第1マーカが取り付けられていた人体上の照射位置に合わせて第2マーカを取り付けた状態で、磁場計測部はSQUID(Superconducting Quantum Interfarence Device)により脳の神経活動にともなって発生する磁場の強度を計測する。
【選択図】図4
従来技術、競合技術の概要


一般的に「脳磁計」とよばれるMEG(Magnetoencephalography)は、超伝導量子干渉素子(SQUID:Superconducting Quantum Interference Device)により、脳の神経活動にともなって発生する微弱磁場を頭皮上から計測できる。MEGは、計測精度において優れており、知覚や感情、学習、言語等の高次な脳機能を解明するためのツールとして期待されている。
【特許文献1】
特開2004-160085号公報

産業上の利用分野


本発明は、人体から発生する磁場を計測する技術に関し、主には、脳の神経活動にともなって発生する磁場を計測する技術、に関する。

特許請求の範囲 【請求項1】
人体に取り付けられる第1マーカと、
前記第1マーカが取り付けられた状態で前記人体の内部を撮像し、前記第1マーカが投影された第1撮像画像を取得する第1撮像部と、
前記第1マーカが取り付けられた状態で前記人体の外部を撮像し、前記第1マーカの取り付け位置を示す第2撮像画像を取得する第2撮像部と、
前記第2撮像画像を参照して前記第1マーカが取り付けられていた前記人体上の位置を照射する照射部と、
前記人体に取り付けられ、自ら磁場を発生させる第2マーカと、
前記第1マーカが取り付けられていた前記人体上の照射位置に合わせて前記第2マーカを取り付けた状態で、前記人体の内部から発生する磁場の強度を計測する磁場計測部と、
を備えることを特徴とする生体計測装置。

【請求項2】
前記磁場計測部は、SQUID(Superconducting Quantum Interfarence Device)により脳の神経活動にともなって発生する磁場の強度を計測することを特徴とする請求項1に記載の生体計測装置。

【請求項3】
前記第1撮像部は、磁気共鳴方式によって前記人体の内部を撮像することを特徴とする請求項1または2に記載の生体計測装置。

【請求項4】
前記第1マーカと前記第2マーカはそれぞれ複数個取り付けられ、
複数個の前記第1マーカは、1つまたは2つ耳穴へ挿入可能に形成された第1マーカと、それ以外の第1マーカとを含み
複数個の前記第2マーカは、1つまたは2つ耳穴に挿入可能に形成された第2マーカと、それ以外の第2マーカとを含み、
前記照射部は、耳穴へ挿入された第1マーカ以外の第1マーカが取り付けられていた前記人体上の位置を照射する
ことを特徴とする請求項1から3のいずれかに記載の生体計測装置。

【請求項5】
第1マーカが取り付けられた状態で人体の内部を撮像し、前記第1マーカが投影された第1撮像画像を取得するステップと、
前記第1マーカが取り付けられた状態で前記人体の外部を撮像し、前記第1マーカの取り付け位置を示す第2撮像画像を取得するステップと、
前記第2撮像画像を参照して、前記第1マーカが取り付けられていた前記人体上の位置を照射するステップと、
自ら磁場を発生させる第2マーカを前記第1マーカが取り付けられていた前記人体上の照射位置に合わせて取り付けた状態で、前記人体の内部から発生する磁場の強度を計測するステップと、
前記第1撮像画像上の前記第1マーカの位置と、前記計測するステップにおいて計測された磁場分布データ上の前記第2マーカの位置とが一致するように、前記第1撮像画像と前記磁場分布データとを重ね合わせるステップと、
を備えることを特徴とする生体計測方法。
国際特許分類(IPC)
Fターム
画像

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JP2006001773thum.jpg
出願権利状態 登録
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