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光シャッターの性能評価用分析装置

国内特許コード P09A014510
整理番号 12950
掲載日 2009年5月22日
出願番号 特願2007-174864
公開番号 特開2009-014889
登録番号 特許第5540300号
出願日 平成19年7月3日(2007.7.3)
公開日 平成21年1月22日(2009.1.22)
登録日 平成26年5月16日(2014.5.16)
発明者
  • 森 道昭
  • 桐山 博光
  • 近藤 修司
  • 金沢 修平
  • 大道 博行
出願人
  • 国立研究開発法人日本原子力研究開発機構
発明の名称 光シャッターの性能評価用分析装置
発明の概要 【課題】時間分解能に優れ且つ電気的な雑音に強い、光シャッターの性能評価用分析装置を提供する。
【解決手段】光源6、光シャッター3、分光器8、解析装置9により構成し、光源6には、時間的に周波数が変化し、かつその変化が既知であるチャープパルスレーザーを用い、分光器8に入射した、光シャッター3動作時及び非動作時それぞれの周波数スペクトル、もしくは動作時の前記シャッター装置通過前後の周波数スペクトルを解析装置9で記憶・演算する。
【選択図】図1
従来技術、競合技術の概要



図5に、従来例による光シャッターの性能評価用分析装置の概略図を示す。この分析装置では、光源2から発生する光1を光シャッター3に通し、その光を光電変換素子4によって電気的な信号に変換し、その時間波形をオシロスコープ5で計測することによって評価している(例えば、特許文献1参照)。

【特許文献1】

開2003-295240号公報

産業上の利用分野



本発明は、光シャッターのシャッター速度及び遮光性能等を評価するための光シャッターの性能評価用分析装置に関するものである。

特許請求の範囲 【請求項1】
光量を可変的に制御するシャッター装置の性能を評価するための光シャッターの性能評価用分析装置であって、
時間的に周波数が変化する光を発生する光発生部と、
前記光発生部で発生した光の周波数スペクトル分布を計測する周波数スペクトル分析装置と
を備え、
前記周波数スペクトル分析装置は、前記シャッター装置が開閉動作せず開いている期間に前記シャッター装置を通過した光の第1の周波数スペクトル分布を計測すると共に前記シャッター装置が開閉動作している間を含む期間に前記シャッター装置を通過した光の第2の周波数スペクトル分布を計測する第1の計測、並びに、前記シャッター装置が開閉動作している間を含む期間において、前記シャッター装置を通過する前の光の第1の周波数スペクトル分布を計測すると共に前記シャッター装置を通過した後の光の第2の周波数スペクトル分布を計測する第2の計測のいずれかを実行し、
前記第1の周波数スペクトル分布と前記第2の周波数スペクトル分布とに基づいて、前記シャッター装置のシャッター速度または立ち上がり性能を評価することを特徴とする光シャッターの性能評価用分析装置。

【請求項2】
前記光発生部として、チャープパルスレーザーを用いたことを特徴とする請求項1記載の光シャッターの性能評価用分析装置。

【請求項3】
前記第1の周波数スペクトル分布と前記第2の周波数スペクトル分布との強度比を演算し、該強度比を周波数から時間の関数に変換し、時間の関数に変換された前記強度比に基づいて、前記シャッター装置のシャッター速度または立ち上がり性能を評価することを特徴とする請求項1又は2記載の光シャッターの性能評価用分析装置。

【請求項4】
前記シャッター装置が閉じている所定時間における、前記時間の関数に変換された強度比に基づいて前記シャッター装置の遮光性能を評価することを特徴とする請求項3記載の光シャッターの性能評価用分析装置。

【請求項5】
前記時間の関数に変換された強度比時間に関する増加又は減少の割合に基づいて、前記シャッター装置のシャッター速度を評価することを特徴とする請求項3又は4記載の光シャッターの性能評価用分析装置。
国際特許分類(IPC)
画像

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JP2007174864thum.jpg
出願権利状態 登録
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