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サンプルピン保持アタッチメント

国内特許コード P09P006268
整理番号 21681
掲載日 2009年5月29日
出願番号 特願2007-289698
公開番号 特開2009-115652
登録番号 特許第5099499号
出願日 平成19年11月7日(2007.11.7)
公開日 平成21年5月28日(2009.5.28)
登録日 平成24年10月5日(2012.10.5)
発明者
  • 山本 雅貴
  • 上野 剛
  • 村上 博則
出願人
  • 独立行政法人理化学研究所
発明の名称 サンプルピン保持アタッチメント
発明の概要

【課題】ネジ式のサンプルピン対応のサンプルチェンジャーをマグネット式のサンプルピンに対応させることを可能にするサンプルピン保持アタッチメントを提供する。
【解決手段】本発明のサンプルピン保持アタッチメントは、第1及び第2部分を含む少なくとも2つの部分に分割され且つ第1及び第2部分の間にサンプルピンを保持するトング部と、第1及び第2部分のそれぞれに結合された第1及び第2板バネ部と、第1及び第2板バネ部に結合された軸部とを有する本体部と、前記本体部から分離され且つ第1及び第2部分の外側面にそれぞれ当接するように配置される第1及び第2押さえ部とを備え、第1及び第2板バネ部は、それぞれ、第1及び第2部分を前記軸部の中心軸から遠ざける方向のバネ力を第1及び第2部分に加え、第1及び第2部分の外側面は、それぞれ、前記軸部の中心軸から第1及び第2部分の外側面までの距離が互いに異なる短距離部及び長距離部を有することを特徴とする。
【選択図】図1

従来技術、競合技術の概要


従来、単結晶X線回折実験において凍結試料を自動交換するための装置(サンプルチェンジャー)として、特許文献1に記載のものが知られている。



このサンプルチェンジャーは、両端に左右逆ネジを備えたサンプルピン(以下、「ネジ式のサンプルピン」と称する)を、一軸回転動作のみで実験装置に着脱する機能を有しており、放射光施設や実験室において迅速に実験を行うために利用されている。



但し、このサンプルチェンジャーは、従来より広く一般的に用いられているマグネットヘッドに装着する形式のサンプルピン(以下、「マグネット式のサンプルピン」と証する。例えばハンプトンリサーチ社製品等。)には対応していない。非特許文献1に代表されるように、マグネット式のサンプルピンを取り扱うためのサンプルチェンジャーは、現在までに多くの研究機関や企業などにより数多く開発されている。

【特許文献1】特許第3640383号

【非特許文献1】G. Snell et. al,"Automated Sample Mounting and Alignment System for Biological Crystallography at a Synchrotron Source", Structure, (2004). 12, pp537-545

産業上の利用分野


本発明は、サンプルピン保持アタッチメントに関する。

特許請求の範囲 【請求項1】
第1及び第2部分を含む少なくとも2つの部分に分割され且つ第1及び第2部分の間にサンプルピンを保持するトング部と、第1及び第2部分のそれぞれに結合された第1及び第2板バネ部と、第1及び第2板バネ部に結合された軸部とを有する本体部と、前記本体部から分離され且つ第1及び第2部分の外側面にそれぞれ当接するように配置される第1及び第2押さえ部とを備え、
第1及び第2板バネ部は、それぞれ、第1及び第2部分を前記軸部の中心軸から遠ざける方向のバネ力を第1及び第2部分に加え、
第1及び第2部分の外側面は、それぞれ、前記軸部の中心軸から第1及び第2部分の外側面までの距離が互いに異なる短距離部及び長距離部を有することを特徴とするサンプルピン保持アタッチメント。

【請求項2】
第1及び第2部分は、互いに接触した際に第1及び第2部分の間に近位端側が閉じていて遠位端側が円筒形である空間が形成されるように構成される請求項1に記載のアタッチメント。

【請求項3】
前記空間は、前記遠位端側から順に大径部と、大径部よりも直径が小さい小径部とを備える請求項2に記載のアタッチメント。

【請求項4】
第1及び第2部分は、それぞれ、遠位端において、外側面と内側面がどちらも半円筒形であり、
第1及び第2部分の遠位端側から見たときの前記軸部の中心軸に垂直な面において、第1及び第2部分の内側面の半円の直線部は、第1及び第2部分の外側面の半円の直線部に重なり、第1及び第2部分の内側面の半円の曲率中心は、それぞれ、第1及び第2部分の外側面の半円の曲率中心からずれていて且つ第1及び第2部分が互いに接触した際に前記軸部の中心軸に一致する請求項1~3の何れか1つに記載のアタッチメント。

【請求項5】
請求項1~4に記載のサンプルピン保持アタッチメントの使用方法であって、
第1及び第2部分の外側面にそれぞれ当接するように第1及び第2押さえ部を配置し、
第1及び第2押さえ部がそれぞれ第1及び第2部分の前記短距離部に当接するように前記軸部の中心軸を軸として第1及び第2押さえ部と前記本体部とを第1方向に相対的に回転させることによって前記トング部を開状態にし、
第1及び第2押さえ部がそれぞれ第1及び第2部分の前記長距離部に当接するように前記軸部の中心軸を軸として第1及び第2押さえ部と前記本体部とを第1方向とは逆の第2方向に相対的に回転させることによって前記トング部を閉状態にする工程を備えるサンプルピン保持アタッチメントの使用方法。

【請求項6】
第1及び第2押さえ部と前記本体部との相対的な回転は、第1及び第2押さえ部を不動にし且つ前記本体部を回転させることによって行う請求項5に記載の方法。
産業区分
  • 試験、検査
国際特許分類(IPC)
Fターム
画像

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JP2007289698thum.jpg
出願権利状態 権利存続中
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