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荷電粒子線医療におけるミュオン・モニタリング・システム 外国出願あり

国内特許コード P110002614
整理番号 S2010-0569-N0
掲載日 2011年5月11日
出願番号 特願2010-045774
公開番号 特開2011-177391
登録番号 特許第5472731号
出願日 平成22年3月2日(2010.3.2)
公開日 平成23年9月15日(2011.9.15)
登録日 平成26年2月14日(2014.2.14)
発明者
  • 永嶺 謙忠
出願人
  • 大学共同利用機関法人 高エネルギー加速器研究機構
発明の名称 荷電粒子線医療におけるミュオン・モニタリング・システム 外国出願あり
発明の概要 【課題】陽子線などの荷電粒子線パルスのブラッグピーク位置に静止した粒子線自身がつくる正ミュオンのミュエスアール信号を得て、陽子線などの粒子線治療の放射線効果を正確に把握する。
【解決手段】加速器から出射される230MeVの陽子を取り込み、照射装置11から陽子ビームパルスを出射して、治療対象となる患者(人体2)に照射させる毎に、鉛遮蔽板4、遅延信号を使用して、生体中のブラッグピーク位置で同じ陽子がつくる前方ミュオンの消滅に起因し発生する遅延陽電子のみを位置的、時間的に選択し、第1位置敏感陽電子カウンター板9の各陽電子カウンター、第2位置敏感陽電子カウンター板10の各陽電子カウンターで、陽電子発生位置と遅延同時信号の時間との情報を測定し、遅延陽電子を測定した後、測定結果を解析し、表示装置8に陽子のブラッグピーク位置近辺の陽電子発生場所毎に区分されたミュエスアール信号を画面表示する。
【選択図】図1
従来技術、競合技術の概要



現在、がん治療方法の1つとして、陽子や重イオンなどの高エネルギー荷電粒子線を利用した放射線医療が実用化されている。





また、PET方式のモニター装置やガンマ線方式のモニター装置などを使用し、粒子線治療効果をその場(In-situ)で的確にモニターする方法も提案されている。





例えば、In-situ PET方式のモニター装置では、粒子線の核反応で生ずる陽電子発生原子核を利用してPETの観測を行い陽子が通過する位置の元素分析を行う。





また、In-situ Gamma方式のモニター装置では、陽子線の核反応から発生する特性ガンマ線を捕らえ元素分析を行う。

産業上の利用分野



本発明は、放射線医学などで使用される陽子線などの荷電粒子線医療におけるミュオン・モニタリング・システムに関し、特に、ブラッグピークにおける放射線効果を直接観測し得るようにした粒子線医療におけるミュオン・モニタリング・システムに関する。

特許請求の範囲 【請求項1】
加速器によって加速された高エネルギー荷電粒子ビームを人体に照射して、粒子線治療を行う粒子線医療におけるミュオン・モニタリング・システムにおいて、
人体に照射された高エネルギー粒子ビームパルスのブラッグピーク位置に対応するように配置され、前記高エネルギー粒子ビームパルスに起因して生成された各粒子、各放射線のうち、前記ブラッグピーク位置に対応する位置で停止したミュオンの崩壊で放出される遅延陽電子を選択的に通過させる遮蔽体と、
指定された方向からの陽電子を検出する複数の陽電子検出板を持ち、前記ブラッグピーク位置に対応するように配置されて、前記各陽電子検出板毎に、前記遮蔽体を通過した遅延陽電子を検出し、陽電子発生位置と遅延同時信号の時間との情報を提供する陽電子検出器と、
前記高エネルギー粒子ビームパルスの照射が完了してから、所定時間だけ遅れたタイミングで、所定幅の遅延信号を生成し、この遅延信号を生成している間、前記陽電子検出器を動作させて、前記遅延陽電子を検出させる処理、前記陽電子検出器を所定回数動作させて得られた検出結果を解析し、陽電子発生場所毎に区分されたミュエスアール信号を生成する処理を行う制御/解析装置と、
を備えたことを特徴とする粒子線医療におけるミュオン・モニタリング・システム。

【請求項2】
請求項1に記載の粒子線医療におけるミュオン・モニタリング・システムにおいて、
前記加速器と前記人体との間に配置され、前記加速器から出射される前記高エネルギー粒子ビームが持つエネルギーの一部を吸収する前置エネルギー吸収体、
を備えたことを特徴とする粒子線医療におけるミュオン・モニタリング・システム。

【請求項3】
請求項1又は2に記載の粒子線医療におけるミュオン・モニタリング・システムにおいて、
前記加速器から供給される前記高エネルギー粒子ビームの出射位置、又は出射方向を調整して、前記人体に照射させるビーム左右スキャナ、
を備えたことを特徴とする粒子線医療におけるミュオン・モニタリング・システム。
産業区分
  • 治療衛生
国際特許分類(IPC)
Fターム
画像

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JP2010045774thum.jpg
出願権利状態 登録
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