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真空質量測定装置

国内特許コード P110004661
整理番号 6423
掲載日 2011年8月2日
出願番号 特願2004-304402
公開番号 特開2006-118878
登録番号 特許第4729655号
出願日 平成16年10月19日(2004.10.19)
公開日 平成18年5月11日(2006.5.11)
登録日 平成23年4月28日(2011.4.28)
発明者
  • 阿部 哲也
  • 照沼 孝造
  • 小竹 富雄
出願人
  • 独立行政法人 日本原子力研究開発機構
発明の名称 真空質量測定装置
発明の概要

【課題】 秤量過程中に秤量手段の校正を可能とし、秤量手段の特性変化を補償する。
【解決手段】 真空容器1の蓋部3を開けて、計量皿18に被計量物Mを入れた試料容器2を載置した後に、真空容器1内の空気を排出してから測定を始めると、被計量物Mの重量は電子天びん10により検出され、制御表示部11にその数値が表示される。電子天びん10は高温の被計量物Mによる温度の影響による特性変化が避けられず、秤量過程において電子天びん10の校正を頻繁に行う必要がある。この校正は一時的に測定を中止し、遠隔的にカム22をモータ21により回動することにより、レバー20を動かして筒部14を上昇させ、筒部14の上端のフランジ15により計量皿18を上昇させて支持する。この計量皿18の上昇により、荷重伝達棒17は中間部において上部17aと下部17bに分離されるので、その状態で零点調整による校正が可能となる。
【選択図】 図1

従来技術、競合技術の概要


環境の悪い条件で、微小な荷重変化などを精度良く測定することは極めて難しい。



例えば、真空中において高温の溶融金属から放出されるガス量を時間単位で電子天びんを用いて質量変化として測定をしなければならない場合がある。しかし、電子天びんに対する熱影響等によりその特性が変化し、精度の良い測定が困難な場合が多い。

産業上の利用分野


本発明は、真空状態において質量測定を行い、秤量過程で校正を行い得る真空質量測定装置に関するものである。

特許請求の範囲 【請求項1】
真空容器内において高温の試料を計量皿に載置してその質量変化を測定可能な真空質量測定装置であって、前記真空容器の下部に前記真空容器と気密に隔絶した熱遮蔽箱を設け、該熱遮断箱に秤量手段を内蔵し、該秤量手段は前記真空容器中に配置した前記計量皿を荷重伝達棒を介して支持し、前記計量皿を前記秤量手段から遠隔的に分離して前記秤量手段に前記計量皿の負荷が伝達しないようにする分離手段を設け、前記真空容器内を真空とした測定状態において前記計量皿を前記秤量手段から分離し前記秤量手段の零点調整を行うことを特徴とする真空質量測定装置。

【請求項2】
前記真空容器の上部に、前記試料を前記計量皿に載置するための開閉可能な蓋部を設けた請求項1に記載の真空質量測定装置。

【請求項3】
前記分離手段は前記荷重伝達棒を2つの部材から構成し、両部材を上下に分離するようにした請求項1又は2に記載の真空質量測定装置。

【請求項4】
前記荷重伝達棒の前記計量皿を固定した上部を、機械的手段により持ち上げ前記秤量手段から分離するようにした請求項3に記載の真空質量測定装置。

【請求項5】
前記熱遮蔽箱は前記真空容器と磁性流体により気密に隔絶した請求項1~4の何れか1つの請求項に記載の真空質量測定装置。
産業区分
  • 測定
国際特許分類(IPC)
画像

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JP2004304402thum.jpg
出願権利状態 権利存続中
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