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アバランシェフォトダイオードを用いた波長スペクトル検出方法 コモンズ

国内特許コード P110005936
整理番号 H18-96
掲載日 2011年11月15日
出願番号 特願2007-084832
公開番号 特開2008-241578
登録番号 特許第4654446号
出願日 平成19年3月28日(2007.3.28)
公開日 平成20年10月9日(2008.10.9)
登録日 平成23年1月7日(2011.1.7)
発明者
  • 秋山 正弘
  • 澤田 和明
出願人
  • 独立行政法人国立高等専門学校機構
  • 国立大学法人豊橋技術科学大学
発明の名称 アバランシェフォトダイオードを用いた波長スペクトル検出方法 コモンズ
発明の概要 【課題】小型で持ち運びやすく、設置場所に制限されない装置が実現可能となる、APDを用いた波長スペクトル検出方法を提案することにある。
【解決手段】任意の光の波長スペクトルを検出する方法であって、アバランシェフォトダイオードの増倍率を検出する増倍率検出回路を用いて、アバランシェフォトダイオードに、予め波長が判明している比較用の光を入射させたときの増倍率を検出し、アバランシェフォトダイオードに前記任意の光を入射させたときの増倍率を、前記増倍率検出回路を用いて検出し、数式1に基づいて、前記任意の光の波長スペクトルを検出する。
【選択図】図1
従来技術、競合技術の概要


通常、波長スペクトラム測定をするために光スペクトラムアナライザが用いられている(たとえば、特許文献1参照)。



光スペクトラムアナライザは、モータ等によって角度を変えることができるように支持された回折格子に測定対象光を入射し、その回折光からスリットによって選択した光のレベルを受光器によって検出する光学部を有しており、回折格子の角度を連続的に変えることによりスリットを通過する光の波長を掃引して、入力光の波長毎のスペクトラムを求め、これを表示器の画面に波長軸とともに表示している。表示されるスペクトラムの波長情報は、光学部の機械的な情報、即ち、回折格子の角度情報に基づいて生成されている。



【特許文献1】
特開2002-168692(第3頁、従来の技術)

産業上の利用分野


この発明は、波長スペクトルを検出する方法に関し、より詳細には、アバランシェフォトダイオードの増倍率に基づいて波長スペクトルを検出するアバランシェフォトダイオードを用いた波長スペクトル検出方法に関する

特許請求の範囲 【請求項1】
任意の光の波長スペクトルを検出する方法であって、
アバランシェフォトダイオードの増倍率を検出する増倍率検出回路を用いて、単一の前記アバランシェフォトダイオードに複数のバイアス電圧Vnを印加した場合のそれぞれにおいて、予め波長λnが判明している複数の比較用の光をそれぞれ入射させたときの増倍率X[λn,Vn]を検出し、
前記単一のアバランシェフォトダイオードに前記任意の光を入射させたときの増倍率M(n)を、前記複数のバイアス電圧Vnを印加した場合のそれぞれにおいて前記増倍率検出回路を用いて検出し、
以下の数1の式に基づいて、前記任意の光の波長スペクトルを検出することを特徴とするアバランシェフォトダイオードを用いた波長スペクトル検出方法。
なお、Anは波長λnの光の含有率。nは2以上の整数、X[λn,Vn]は前記単一のアバランシェダイオードに逆バイアス電圧Vnを印加し、波長λnの光を入れた場合の増倍率、M(n)は前記単一のアバランシェフォトダイオードに前記逆バイアス電圧Vnを印加し、前記任意の光を入射した場合の増倍率。
【数1】


国際特許分類(IPC)
Fターム
画像

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JP2007084832thum.jpg
出願権利状態 登録
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