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光デバイスの特性評価システム コモンズ

国内特許コード P010000248
整理番号 Y98-P144
掲載日 2002年9月30日
出願番号 特願平11-060413
公開番号 特開2000-258299
登録番号 特許第3393081号
出願日 平成11年3月8日(1999.3.8)
公開日 平成12年9月22日(2000.9.22)
登録日 平成15年1月24日(2003.1.24)
発明者
  • 後藤 俊夫
  • 西澤 典彦
出願人
  • 国立研究開発法人科学技術振興機構
発明の名称 光デバイスの特性評価システム コモンズ
発明の概要 【課題】 波長可変短パルス光源を用いて、光デバイスの特性を的確に、かつ、容易に評価することができる光デバイスの特性評価システムを提供する。
【解決手段】 fsファイバーレーザー1から出力される短パルスを光ファイバー3に入射し、光ファイバー3中の非線形効果によって、波長のシフトしたfsソリトンパルスSを生成する。このソリトンパルスSの波長は励起パルスRの強度を変化させるだけで、ほぼ線形に変化させることができる。このfsソリトンパルスSを被測定デバイス4に入射し、サンプリングオシロスコープ5を用いて時間応答を観測する。更に、その観測結果をパーソナルコンピューター6を用いてフーリエ変換し、被測定デバイス4の周波数応答特性を得る。
従来技術、競合技術の概要


近年の光通信技術の発展に伴い、光デバイスの時間応答にますます高速化が求められるようになり、それらの特性を評価することは徐々に難しくなってきている。また、広い波長帯を用いる波長多重光通信の発展に伴い、デバイスの波長依存性を評価することが重要な課題となってきている。
短パルス光を光デバイスに外部から入射し、その時間応答を測定することによって、デバイスの周波数特性を評価することはできるが、これまで、短パルス光源は、装置が大きく、取り扱いが困難であった。また、これまで短パルス光の波長を変化させるには、複雑な光学装置が必要で、波長依存性の測定は容易ではなかった。

産業上の利用分野


本発明は、光デバイスの特性評価システムに係り、特に波長可変短パルス光源を用いた光デバイスの特性評価システムに関するものである。

特許請求の範囲 【請求項1】
光デバイスの特性評価システムにおいて、
(a)波長可変フェムト秒短パルス光源と、
(b)該波長可変フェムト秒短パルス光源から出力される短パルス光を導入する被測定デバイスと、
(c)該被測定デバイスの広帯域の周波数特性や時間応答特性を評価する装置とを具備することを特徴とする光デバイスの特性評価システム。

【請求項2】
請求項1記載の光デバイスの特性評価システムにおいて、前記被測定デバイスは光受光器であることを特徴とする光デバイスの特性評価システム。

【請求項3】
請求項1記載の光デバイスの特性評価システムにおいて、前記被測定デバイスは光増幅器であることを特徴とする光デバイスの特性評価システム。

【請求項4】
請求項1記載の光デバイスの特性評価システムにおいて、前記被測定デバイスは光ファイバーであることを特徴とする光デバイスの特性評価システム。

【請求項5】
請求項1記載の光デバイスの特性評価システムにおいて、前記波長可変フェムト秒短パルス光源から出力されるソリトンパルスとソリトンパルスに変換されなかった励起パルスを前記被測定デバイスに入射し、出力において励起パルスとソリトンパルスの時間差を測定し、波長分散の波長依存性を評価することを特徴とする光デバイスの特性評価システム。

【請求項6】
請求項1記載の光デバイスの特性評価システムにおいて、前記波長可変フェムト秒短パルス光源から得られる2つのソリトンパルスで前記被測定デバイスを励起し、後から入射されるソリトンパルスで反作用の時間変化を測定し、その2つの出力を分波して、それぞれ受光器で検波して観測し、観測結果をコンピュータに取り込み、解析し、前記被測定デバイスの時間応答を得ることを特徴とする光デバイスの特性評価システム。

【請求項7】
請求項6記載の光デバイスの特性評価システムにおいて、前記被測定デバイスは可飽和吸収素子であることを特徴とする光デバイスの特性評価システム。
国際特許分類(IPC)
Fターム
画像

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JP1999060413thum.jpg
出願権利状態 登録
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