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エレクトロスプレー質量分析方法及びその装置 実績あり

国内特許コード P010000288
整理番号 A051P81
掲載日 2003年1月17日
出願番号 特願平11-087356
公開番号 特開2000-285847
登録番号 特許第3137953号
出願日 平成11年3月30日(1999.3.30)
公開日 平成12年10月13日(2000.10.13)
登録日 平成12年12月8日(2000.12.8)
発明者
  • 山口 健太郎
出願人
  • 国立研究開発法人科学技術振興機構
発明の名称 エレクトロスプレー質量分析方法及びその装置 実績あり
発明の概要 【課題】 不安定な有機金属錯体及び高分子有機化合物の分子イオン及びフラグメントイオンの質量を的確に分析することができるエレクトロスプレーイオン化質量分析法及びその装置を提供する。
【解決手段】 エレクトロスプレーイオン化質量分析法において、スプレー細管より導出される溶媒を含む被験試料を気化用不活性ガスAで冷却し、さらに脱溶媒チャンバー7またはイオン源ブロック8を液体窒素で冷却しながらイオン化を行い、前記被験試料の質量を分析する。
従来技術、競合技術の概要


従来、このような分野の技術文献としては、以下に示すようなものがあった。
(1)F.Bitsch,C.O.D.‐Buchecker,A.‐K.Khemiss,J.‐P.Sauvage,A.V.Dorsselaer,J.Am.Chem.Soc.1991,113,4023-4025.
(2)D.‐C.Buchecker,E.Leize,J.‐F.Nierengarten,J.‐P.Sauvage,A.V.Dorsselaer,J.Chem.Soc.,Chem.Commun.1994,2257-2258.
(3)D.Whang,K.‐M.Park,J.Heo,P.Ashton,K.Kim,J.Am.Chem.Soc.1998,120,4899-4900.
液体導入エレクトロスプレーイオン化(ESI)装置はタンパク質等生体高分子及び有機金属錯体等の分子構造を解析する上で発展してきた。
有機金属化合物には、例えば、自己集合による遷移金属を用いた高度に秩序付けられた超分子などがあり、注目されてきた〔(1)F.Bitsch,C.O.D.‐Buchecker,A.‐K.Khemiss,J.‐P.Sauvage,A.V.Dorsselaer,J.Am.Chem.Soc.1991,113,4023-4025. (2)D.‐C.Buchecker,E.Leize,J.‐F.Nierengarten,J.‐P.Sauvage,A.V.Dorsselaer,J.Chem.Soc.,Chem.Commun.1994,2257-2258. (3)D.Whang,K.‐M.Park,J.Heo,P.Ashton,K.Kim,J.Am.Chem.Soc.1998,120,4899-4900. (4)M.Fujita,K.Ogura,Coord.Chem.Rev;1996,148,249-264.参照〕。
こうした化合物の特徴、及び詳細な分子構造分析は、主にX線結晶学やNMR(核磁気共鳴)分光学によって行われていた。

産業上の利用分野


本発明は、エレクトロスプレー質量分析方法及びその装置に関するものである。

特許請求の範囲 【請求項1】
エレクトロスプレー質量分析方法において、
スプレー細管より導出される溶媒を含む被験試料溶液を気化ガスで冷却してスプレーし、該スプレーされた被験試料溶液を脱溶媒チャンバーおよびイオン源ブロックを冷却しながらイオン化を行い、被験試料の質量を分析することを特徴とするエレクトロスプレー質量分析方法。

【請求項2】
請求項1記載のエレクトロスプレー質量分析方法において、前記気化ガスおよびイオン源ブロッは液体窒素温度から室温の範囲の低温領域にあることを特徴とするエレクトロスプレー質量分析方法。

【請求項3】
請求項1記載のエレクトロスプレー質量分析方法において、
前記被験試料は有機化合物であることを特徴とするエレクトロスプレー質量分析方法。

【請求項4】
請求項1記載のエレクトロスプレー質量分析方法において、
前記気化ガスはネライザーガスであることを特徴とするエレクトロスプレー質量分析方法。

【請求項5】
請求項記載のエレクトロスプレー質量分析法において、前記気化ガスは窒素ガス等の不活性ガスであることを特徴とするエレクトロスプレーイオン化質量分析方法。

【請求項6】
請求項1記載のエレクトロスプレーイオン化質量分析方法において、前記溶媒は水乃至無極性有機溶媒であり、分子構造を分析することを特徴とするエレクトロスプレー質量分析方法。

【請求項7】
エレクトロスプレー質量分析装置において、
(a)溶媒を含む被験試料溶液を導出するスプレー細管と、
(b)該スプレー細管と同軸形状をなし冷却ガスを通すシース管と、
(c)冷却されたイオン源ブロック及び脱溶媒チャンバーと、
(d)前記溶媒を用いてイオン化を行い、被験試料の質量を分析する質量分析計とを備え、
(e)エレクトロスプレーイオン源において脱溶媒チャンバーおよびイオン源ブロック直接液体窒素を吹きつけることにより冷却し、用いることを特徴とするエレクトロスプレー質量分析装置。

【請求項8】
請求項7記載のエレクトロスプレー質量分析装置において、前記冷却ガスは、不活性ガスの冷却装置を介して前記シース管に導入されることを特徴とするエレクトロスプレー質量分析装置。
国際特許分類(IPC)
Fターム
画像

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JP1999087356thum.jpg
出願権利状態 登録
ライセンス状況 通常実施権[C02-07]
参考情報 (研究プロジェクト等) CREST 単一分子・原子レベルの反応制御 領域
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