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質量分析機器用試料イオン化装置 コモンズ

国内特許コード P120007917
掲載日 2012年9月24日
出願番号 特願2011-040382
公開番号 特開2012-177605
登録番号 特許第5773409号
出願日 平成23年2月25日(2011.2.25)
公開日 平成24年9月13日(2012.9.13)
登録日 平成27年7月10日(2015.7.10)
発明者
  • 持田 由幸
出願人
  • 学校法人神奈川大学
発明の名称 質量分析機器用試料イオン化装置 コモンズ
発明の概要 【課題】大気圧下において、イオン化効率にきわめて優れ、微量の測定試料を高感度で分析することができる質量分析機器用試料イオン化装置を提供すること。
【解決手段】本発明の質量分析機器用試料イオン化装置は、薄層クロマトグラフィー板上の所定の展開箇所に熱風を当てることで前記所定の展開箇所から測定試料を脱離させる熱風加熱手段と、上記脱離後の測定試料をイオン化するためのイオン化手段とを備えることを特徴としている。
【選択図】図1
従来技術、競合技術の概要


いわゆる質量分析方法(以下、「MS」ともいう。)は、測定試料の質量電荷比を求める場合に使用される分析方法である。この質量分析法によって得られるマススペクトルは、豊富な情報量を有し、しかも測定試料に含まれる分子に由来する固有のピークの分布となって現れるため、既知の化学物質の同定及び未知の化学物質の構造決定に強力な手段となっている。このため現在、質量分析方法は、有機化学、生物化学の分野における化学物質の分析において、非常に多用され、将来もきわめて重要な分析方法として期待されている。



質量分析方法は、種々の測定試料の導入部と質量分析計を組み合わせた質量分析機器によって行われる。上記測定試料の導入部においては、測定試料をイオン化する必要がある。ここで、測定試料をイオン化するための試料イオン化装置に適用されているイオン方法としては、測定試料を高分子マトリックスに混ぜ、測定試料に高速で中性原子を衝突させることで測定試料をイオン化する高速原子衝突法(以下、「FAB」ともいう。)や、測定試料とマトリックス(芳香族有機化合物)中に混合し、その結晶を作り、これにレーザーを照射することによりイオン化するマトリックス支援レーザー脱離イオン化方法(以下、「MALDI」ともいう。)がある。



しかしながら、上記質量分析機器を構成する試料イオン化装置に採用されている高速原子衝突法(「FAB」)、マトリックス支援レーザー脱離イオン化方法(「MALDI」)は、いずれも真空下において行われることを条件とするため、測定試料をイオン化する際に操作上支障を来たす場合が多い。また、上記これらの試料イオン化装置は、真空下で使用されるものであるので、そのイオン化効率を維持するためのメンテナンスに要する労力及びコストも大きい。



そこで、真空下ではなく、大気圧下において使用することができる試料イオン化装置が提案されている。例えば、コロナ放電、又はグロー放電によって生成した励起分子と測定試料を反応させ、測定試料をペニングイオン化して、質量分析計のイオン導入口に導入させるDART(Direct Analysis in Real Time)法(以下、「DART法」)と呼ばれるイオン化方法を適用した試料イオン化装置が提案されている。



また、大気圧下において、微量の測定試料を高感度で分析するために、励起・イオン化されたキャリアガスを測定試料と反応させ、測定試料ガスイオンを生成する質量分析機器用イオン化装置が提案されている(特許文献1参照)。さらに、非定形試料をイオン化するに際して、前処理の不要な大気圧イオン化方法及び当該方法を適用した試料保持装置が提案されている(特許文献2参照)。

産業上の利用分野


本発明は、質量分析機器用試料イオン化装置に関する。さらに詳しくは、大気圧下において、測定試料を効率良くイオン化することができる質量分析機器用試料イオン化装置に関する。

特許請求の範囲 【請求項1】
薄層クロマトグラフィー基板上の所定の展開箇所に熱風を当てることで前記所定の展開箇所から測定試料を脱離させる熱風加熱手段と、
前記脱離後の測定試料を大気圧下においてイオン化するためのイオン化手段と、を備える質量分析機器用試料イオン化装置。

【請求項2】
前記熱風加熱手段は、前記薄層クロマトグラフィー基板上の前記展開箇所の表裏同時を加熱可能である請求項1記載の質量分析機器用試料イオン化装置。

【請求項3】
前記熱風の温度調整を行う温調手段をさらに備える請求項1又は2記載の質量分析機器用試料イオン化装置。

【請求項4】
前記熱風加熱手段は、全体として筒状体をなし、筒内の一端側から他端側に向けて脱離用ガスを供給可能であり、
前記他端側の円周部には一対の切り欠き凹部が形成されており、この一対の切り欠き凹部を跨ぐように前記薄層クロマトグラフィー基板が配置されている請求項1から3いずれか1項記載の質量分析機器用試料イオン化装置。

【請求項5】
前記測定試料の展開方向に沿って、前記薄層クロマトグラフィー基板を加熱箇所に対して相対移動させる薄層板移動手段をさらに備える請求項1から4いずれか1項記載の質量分析機器用試料イオン化装置。

【請求項6】
前記イオン化手段は、
前記脱離後の測定試料に対する紫外線照射手段と、
前記脱離後の測定試料に対してアルゴンガスと水を供給する湿アルゴンガス供給手段と、
を備える請求項1から5いずれか1項記載の質量分析機器用試料イオン化装置。

【請求項7】
前記イオン化手段は、
前記脱離後の測定試料に対して、放電による励起アルゴンガスを供給する励起アルゴンガス供給手段と、を備える請求項1から5いずれか1項記載の質量分析機器用試料イオン化装置。
産業区分
  • 試験、検査
国際特許分類(IPC)
Fターム
画像

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JP2011040382thum.jpg
出願権利状態 登録
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