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光子ビーム走査装置及び光子ビーム走査方法

国内特許コード P120007959
整理番号 S2011-0389
掲載日 2012年9月28日
出願番号 特願2011-034193
公開番号 特開2012-173076
登録番号 特許第5737749号
出願日 平成23年2月21日(2011.2.21)
公開日 平成24年9月10日(2012.9.10)
登録日 平成27年5月1日(2015.5.1)
発明者
  • 紀井 俊輝
出願人
  • 国立大学法人京都大学
発明の名称 光子ビーム走査装置及び光子ビーム走査方法
発明の概要 【課題】電子ビームとレーザ光との衝突を簡単に実現させる。
【解決手段】発生させた電子ビームE及びレーザ光Rの経路を制御して電子ビームEとレーザ光Rとを衝突させる。電子ビームEの経路を制御して仮想的に設定された楕円10の第1焦点11に電子ビームEを入射させると共に当該第1焦点11への入射角度を変化させる電子ビーム制御部7と、楕円10の第2焦点12から当該楕円10の一部へと向かうレーザ光Rの進行方向を変化させるレーザ光制御部8と、楕円10の一部に沿った反射面19を有し、第2焦点12から当該反射面19に入射したレーザ光Rを反射させて電子ビームEの反対側から第1焦点11に入射させる楕円面ミラー9とを有している。
【選択図】 図1
従来技術、競合技術の概要


加速器によって発生させた高エネルギー電子ビームとレーザ光とを衝突させることにより、レーザコンプトン散乱によるγ線(光子ビーム)を発生させることができ、発生させた準単色のγ線は、例えば貨物コンテナのような大型物品の内部(収容物)の非破壊検査を行う上で有用である。
このような非破壊検査を行う場合、検査対象となる対象物全体を走査(スキャン)するためには、γ線源と対象物との位置関係を変化させつつ走査する必要がある。



上記のような走査を行う装置として、例えば、特許文献1に記載のものがある。この走査装置は、衝突点に入射する電子ビームの入射角度を変化させるビーム入射角度制御装置と、衝突点に入射するレーザ光の入射角度を変化させるレーザ入射角度制御装置と、これら装置を制御する制御装置とを備えている。レーザコンプトン散乱では、電子ビームの衝突点への入射方向と同じ方向に光子ビームが放出されることから、前記走査装置によれば、電子ビームの衝突点への入射角度を変化させることにより、発生させる光子ビームの放射方向を変化させることができる。これにより、対象物を所定の範囲にわたって走査することが可能となる。

産業上の利用分野


本発明は、光子ビーム走査装置及び光子ビーム走査方法に関する。

特許請求の範囲 【請求項1】
電子ビームを発生させる電子ビーム発生装置と、
レーザ光を発生させるレーザ発生装置と、
発生させた電子ビーム及びレーザ光の経路を制御して電子ビームとレーザ光とを衝突させるための経路制御装置と、を備え、
前記経路制御装置は、
前記電子ビームの経路を制御して仮想的に設定された楕円の第1焦点に電子ビームを入射させると共に当該第1焦点への入射角度を変化させる電子ビーム制御部と、
前記楕円の第2焦点から当該楕円の一部へと向かう前記レーザ光の進行方向を変化させるレーザ光制御部と、
前記楕円の前記一部に沿った反射面を有し、前記第2焦点から当該反射面に入射したレーザ光を反射させて前記電子ビームの反対側から前記第1焦点に入射させる楕円面ミラーと、
を有し
前記レーザ光制御部は、前記第2焦点を焦点とする放物線の一部に沿った反射面を有し前記レーザ光が前記第2焦点を通過するように反射させる放物面ミラーを有していることを特徴とする光子ビーム走査装置。

【請求項2】
電子ビーム及びレーザ光の経路を制御して電子ビームとレーザ光とを衝突させ、光子ビームを発生させて行う光子ビーム走査方法であって、
前記電子ビームの経路を制御して仮想的に設定された楕円の第1焦点への電子ビームの入射角度を変化させる電子ビーム制御ステップと、
前記楕円の第2焦点を焦点とする放物線の一部に沿った反射面を有する放物面ミラーへレーザ光を入射させ、当該放物面ミラーで反射する当該レーザ光を、当該第2焦点を通過させるとともに、当該放物面ミラーにおけるレーザ光の入射点を変更することにより、当該第2焦点から、当該楕円の一部に沿った反射面を有する楕円面ミラーへと向かう前記レーザ光の進行方向を変化させるレーザ光制御ステップとを備えていることを特徴とする光子ビーム走査方法。
産業区分
  • 原子力
  • 電子応用機器
国際特許分類(IPC)
Fターム
画像

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JP2011034193thum.jpg
出願権利状態 登録
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