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計測装置及び計測方法

国内特許コード P150012616
整理番号 S2014-0365-N0
掲載日 2015年11月26日
出願番号 特願2014-013438
公開番号 特開2015-141282
出願日 平成26年1月28日(2014.1.28)
公開日 平成27年8月3日(2015.8.3)
発明者
  • 戸井田 昌宏
出願人
  • 学校法人 埼玉医科大学
発明の名称 計測装置及び計測方法
発明の概要 【課題】 ストークス光の波長を変更しても実用性を損なうことなく、被検体の形態情報と分子情報の同時計測を行うことが可能な計測装置及び計測方法を提供すること。
【解決手段】 計測装置1は、ポンプ光Pとストークス光Sを発生する光源部10と、ポンプ光Pのパルスを伸長してストークス光Sのパルス幅をポンプ光Pのパルス幅よりも短くするパルス伸長部30と、ストークス光Sを分割する光分割部41と、パルス伸長されたポンプ光Pと一方のストークス光Sとを被検体S上で走査させる光走査部50と、被検体Sからのアンチストークス光ASを検出する第1の光検出部70と、他方のストークス光Sと被検体Sからのストークス光Sの反射光との干渉光を検出する第2の光検出部72とを含み、光源部10の光パラメトリック発振器12は、光路に対して互いに逆方向に同一角度傾くように回転する2つの非線形光学結晶を有する。
【選択図】 図2
従来技術、競合技術の概要


被検体の形態画像(形態情報)と被検体内の成分分布画像(分子情報)の同時計測を実現するものとして、CARSとOCTを複合化した計測装置が知られている(特許文献1を参照)。

産業上の利用分野


本発明は、被検体の形態情報及び分子情報を計測する計測装置及び計測方法に関する。

特許請求の範囲 【請求項1】
ポンプ光を発生する光源と、前記ポンプ光の第二高調波を励起光とする光パラメトリック発振器とを有し、前記光パラメトリック発振器からのアイドラー光をストークス光として発生する光源部と、
前記ポンプ光のパルスを伸長して、前記ストークス光のパルス幅を前記ポンプ光のパルス幅よりも短くするパルス伸長部と、
前記ストークス光を分割する光分割部と、
パルス伸長された前記ポンプ光と前記光分割部で分割された一方のストークス光とを前記被検体上で走査させる光走査部と、
前記被検体からのアンチストークス光を検出して検出信号を出力する第1の光検出部と、
前記光分割部で分割された他方のストークス光と、前記被検体からのストークス光の反射光との干渉光を検出して検出信号を出力する第2の光検出部と、
前記第1の光検出部からの検出信号と、前記第2の光検出部からの検出信号に基づいて、画像生成処理を行う信号処理部とを含み、
前記光パラメトリック発振器は、
光路に対して互いに逆方向に同一角度傾くように回転する2つの非線形光学結晶を有する、計測装置。

【請求項2】
請求項1において、
パルス伸長された前記ポンプ光は、ピコ秒パルスレーザー光であり、前記ストークス光は、フェムト秒パルスレーザー光である、計測装置。

【請求項3】
請求項1又は2において、
前記光パラメトリック発振器からのシグナル光の波長を変調する光変調部を更に含み、
前記第1の光検出部が、
波長変調された前記シグナル光と、前記被検体からのアンチストークス光との干渉光を検出して検出信号を出力する、計測装置。

【請求項4】
請求項3において、
前記被検体からのアンチストークス光を増幅する光増幅部を更に含み、
前記第1の光検出部が、
波長変調された前記シグナル光と、増幅された前記アンチストークス光との干渉光を検出する、計測装置。

【請求項5】
ポンプ光を発生する手順と、
前記ポンプ光の第二高調波を励起光とする光パラメトリック発振器からのアイドラー光をストークス光として発生する手順と、
前記ポンプ光のパルスを伸長して、前記ストークス光のパルス幅を前記ポンプ光のパルス幅よりも短くするパルス伸長手順と、
前記ストークス光を分割する光分割手順と、
パルス伸長された前記ポンプ光と前記光分割手順で分割された一方のストークス光とを前記被検体上で走査させる光走査手順と、
前記被検体からのアンチストークス光を検出して検出信号を出力する第1の光検出手順と、
前記光分割手順で分割された他方のストークス光と、前記被検体からのストークス光の反射光との干渉光を検出して検出信号を出力する第2の光検出手順と、
前記第1の光検出手順で出力した検出信号と、前記第2の光検出手順で出力した検出信号に基づいて、画像生成処理を行う信号処理手順とを含み、
前記光パラメトリック発振器は、
光路に対して互いに逆方向に同一角度傾くように回転する2つの非線形光学結晶を有する、計測方法。

【請求項6】
請求項5において、
パルス伸長された前記ポンプ光は、ピコ秒パルスレーザー光であり、前記ストークス光は、フェムト秒パルスレーザー光である、計測方法。

【請求項7】
請求項5又は6において、
前記光パラメトリック発振器からのシグナル光の波長を変調する光変調手順を更に含み、
前記第1の光検出手順では、
波長変調された前記シグナル光と、前記被検体からのアンチストークス光との干渉光を検出して検出信号を出力する、計測方法。

【請求項8】
請求項7において、
前記被検体からのアンチストークス光を増幅する光増幅手順を更に含み、
前記第1の光検出手順では、
波長変調された前記シグナル光と、増幅された前記アンチストークス光との干渉光を検出する、計測方法。
国際特許分類(IPC)
Fターム
画像

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JP2014013438thum.jpg
出願権利状態 公開


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